標(biāo)題：特種設(shè)備無損檢測(cè)裝置-非標(biāo)制造

無損檢測(cè)的分類可簡(jiǎn)單地分為缺陷檢測(cè)和應(yīng)變檢測(cè)。 

缺陷檢測(cè)包括內(nèi)部檢測(cè)和表層檢測(cè)。內(nèi)部檢測(cè)：射線照相法檢測(cè)、超聲波檢測(cè)。表層檢測(cè)：磁粉檢測(cè)、電磁感應(yīng)檢測(cè)。 

應(yīng)變檢測(cè)包括標(biāo)距應(yīng)變或某點(diǎn)處的應(yīng)變（機(jī)械方法、點(diǎn)方法、X射線應(yīng)力測(cè)試法）、應(yīng)力分布（光彈性試驗(yàn)法、光彈薄膜法、應(yīng)物涂料法、莫爾法、鍍銅法） 

一般來說缺陷的檢測(cè)結(jié)果應(yīng)反饋給加工、 制造部門， 而應(yīng)變測(cè)試結(jié)果應(yīng)反饋給計(jì)劃

設(shè)計(jì)部門。 但是， 設(shè)計(jì)不當(dāng)也是缺陷產(chǎn)生的原因， 因此缺陷檢測(cè)結(jié)果也應(yīng)同時(shí)反饋給計(jì)

劃、 設(shè)計(jì)部門。 另外， 加工不論確有時(shí)也會(huì)產(chǎn)生過大的應(yīng)變， 因此應(yīng)變測(cè)試結(jié)果也應(yīng)反

饋給加工、 制造部門。