? TEC Output Power: 40W
? TEC Output Current: 5A
Features:
?Laser Diode Instrumentation Mainframe Controller
?(4) Fully Isolated Bays
?Advanced 16-Bit Technology
?GPIB and RS-232 Remote Interfacing
Four fully isolated bays accept a wide variety of modules. Many new laser diode applications, requiring multiple current sources and temperature controllers, are accommodated:

Features:
?DVI Port for External Display
?GPIB and LXI-Compliant (Ethernet)
?USB Device Ports for External Keyboard and Mouse
?Field Replaceable Controller/Power Supply Module
The JDSU MAP-200 Series Multiple Application Platforms are an optical test and measurement platform optimized for cost-effective development and manufacturing of optical transmission network elements. Today's rapidly changing optical market requires investment in productivity-enhancing technologies and tools, making the MAP-200 scalable test platform the right tool needed in even the most stringent environments. Based on the previous-generation Multiple Application Platform (MAP), the MAP-200 builds on the differentiation of offering the broadest portfolio of modules in the densest and most configurable platform. The MAP-200 is optimized for test applications in lab and manufacturing environments ranging from insertion loss testing to dispersion penalty testing.

The Model 8000 mainframe automatically detects which module is located in each bay and displays the entire system configuration on the large LCD display. All you do is follow on-screen instructions to configure and operate the modular system.

AQ2211和AQ2212控制機(jī)架是AQ2200多應(yīng)用測量系統(tǒng)的平臺。這些控制機(jī)架包含各種測量應(yīng)用程序，無需連接外部控制器PC也能獲取需要的信息。此外，它們提供三種不同的外部接口，可以為特定測量應(yīng)用選擇*接口。
?易于查看的彩色顯示屏
?用于存儲數(shù)據(jù)的USB端口
?測量模塊“熱插拔”功能
?通過LAN進(jìn)行遠(yuǎn)程監(jiān)視和測量
AQ2211和AQ2212控制機(jī)架是AQ2200多應(yīng)用測量系統(tǒng)的平臺。這些控制機(jī)架包含各種測量應(yīng)用程序，無需連接外部控制器PC也能獲取需要的信息。此外，它們提供三種不同的外部接口，可以為特定測量應(yīng)用選擇*接口。
遠(yuǎn)程監(jiān)視和易于查看的彩色顯示屏，在所有應(yīng)用中均可方便地使用。
?易于查看的彩色顯示屏
?用于存儲數(shù)據(jù)的USB端口
?測量模塊“熱插拔”功能
?通過LAN進(jìn)行遠(yuǎn)程監(jiān)視和測量