SIKORA雙軸外徑檢測(cè)儀LASER 2010 XY

極短的曝光時(shí)間

CCD測(cè)量技術(shù)結(jié)合脈沖驅(qū)動(dòng)激光光源

獨(dú)立數(shù)據(jù)處理

SIKORA雙軸外徑檢測(cè)儀LASER 2010 XY

沒(méi)有活動(dòng)部件：無(wú)需維護(hù)和校準(zhǔn)

一種高質(zhì)量的激光技術(shù)，具有啟發(fā)性的獨(dú)特的非接觸式和非破壞性測(cè)量原理。對(duì)于直徑測(cè)量，SIKORA還提供LASER Series 2000，用于直徑測(cè)量和可靠的塊檢測(cè)，是質(zhì)量保證，工藝優(yōu)化和穩(wěn)定性的理想系統(tǒng)。

產(chǎn)品直徑：0.2…10 mm

精度：± 0.5 μm

重復(fù)度：± 0.1 μm

曝光時(shí)間：0.2 μsec

測(cè)量率：500/sec/axis

尺寸（寬x高x深）：140 x 140 x 63 mm