? TEC Output Power: 40W
? TEC Output Current: 5A
Features:
?Laser Diode Instrumentation Mainframe Controller
?(4) Fully Isolated Bays
?Advanced 16-Bit Technology
?GPIB and RS-232 Remote Interfacing
Four fully isolated bays accept a wide variety of modules. Many new laser diode applications, requiring multiple current sources and temperature controllers, are accommodated:

LDC-3908 8 通道模塊化主機具有與我們廣受好評的 LDC-3916 16 通道模塊化主機相同。事實上，模塊在兩個儀器之間均可互換。LDC-3908 尺寸較小且重量較輕，因而成為通道計數(shù)較小的應(yīng)用（例如 EDFA 和拉曼放大器的研發(fā)或生產(chǎn)測試）的儀器。
8 個立的隔離通道，用于多重激光和 TE 控制
種類豐富的激光控制器模塊，每個通道高達 3A
雙通道激光電流或 TE 控制模塊，用于控制多達 32 個激光二管
的激光保護功能（包括可調(diào)電壓限制）
GPIB/IEEE-488 或 RS-232 遠程控制接口

GPIB/IEEE-488 and RS-232C interfaces are included with the High-Density Laser Diode Controller Models for complete remote control and data collection.
Modules 8605.16C and 8610.16C:
The 8600C Series Combo LDD/TEC modules are designed for use in communication applications and have an internal function generator for testing systems. The user only needs to program the frequency, Imax, and Imin to modulate the laser diode output. Triangle, sine or square (50% duty cycle) waveforms are available from 200 Hz-300 kHz. This range of frequencies meets today's low frequency single-tone and high data rate test requirements for datacom and telecom.
Module 8350:
A 40 Watt Temperature Controller Module, the Model 8350, can meet your most demanding TE cooling needs. Complete characterization of ITE, VTE and the sensor input is possible, making the 8350 module ideal for complete characterization of telecom laser diodes.

Features:
?DVI Port for External Display
?GPIB and LXI-Compliant (Ethernet)
?USB Device Ports for External Keyboard and Mouse
?Field Replaceable Controller/Power Supply Module
The JDSU MAP-200 Series Multiple Application Platforms are an optical test and measurement platform optimized for cost-effective development and manufacturing of optical transmission network elements. Today's rapidly changing optical market requires investment in productivity-enhancing technologies and tools, making the MAP-200 scalable test platform the right tool needed in even the most stringent environments. Based on the previous-generation Multiple Application Platform (MAP), the MAP-200 builds on the differentiation of offering the broadest portfolio of modules in the densest and most configurable platform. The MAP-200 is optimized for test applications in lab and manufacturing environments ranging from insertion loss testing to dispersion penalty testing.