
CT半導(dǎo)體封裝檢測-電機電器檢測-百檢網(wǎng)
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隨著電子技術(shù)的飛速發(fā)展,組裝的高密度化、封裝的小型化以及各種新型封裝技術(shù)的不斷涌現(xiàn),對電子組裝質(zhì)量的要求也越來越高,傳統(tǒng)的檢測手段無法檢測封裝器件的內(nèi)部缺陷。而X射線三維工業(yè)CT,可以在不破壞樣品的情況下,清晰地觀測到電子元器件的分布情況及封裝器件的內(nèi)部結(jié)構(gòu),并可實現(xiàn)與設(shè)計文件的對比,同時,可檢測虛焊、連錫、斷線等缺陷信息。對于后期加工工藝的改進和提升可起到重要的指導(dǎo)作用。
電路板的感興趣區(qū)域的三維CT檢測圖像 | 電容焊點缺陷的檢測結(jié)果 | 焊球缺陷的檢測結(jié)果 |
紅框內(nèi)焊接點存在虛焊現(xiàn)象 | 焊點虛焊可能造成電容接觸不良,甚至脫落, 對系統(tǒng)穩(wěn)定性將造成極大的影響 | 焊球內(nèi)部存在較多氣孔(藍色),焊接質(zhì)量較差 |
百檢檢測優(yōu)勢:
1、檢測行業(yè)全覆蓋,滿足不同的檢測;
2、實驗室全覆蓋,就近分配本地化檢測;
3、工程師一對一服務(wù),讓檢測更精準;
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百檢檢測流程:
1、電話溝通、確認需求;
2、推薦方案、確認報價;
3、郵寄樣品、安排檢測;
4、進度跟蹤、結(jié)果反饋;
5、出具報告、售后服務(wù);
6、如需加急、優(yōu)先處理;


