Hardware in the Loop Test (HIL test)：使用 dSPACE 的模擬器，您能夠快速且自動(dòng)的測(cè)試您發(fā)展的 ECU 功能。這些測(cè)試不需要測(cè)試車手坐在駕駛座上就可以完成，而且任何錯(cuò)誤狀況都能夠被重復(fù)產(chǎn)生。

Hardware in the Loop Test (HIL test)

當(dāng)產(chǎn)品化的步驟完成之后，必須進(jìn)一步的對(duì)如ECU(電子控制元件)等產(chǎn)品做嚴(yán)格的測(cè)試，確認(rèn)其安全性與效能如預(yù)期并且符合各種工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的需求之后，才能正式的量產(chǎn)，否則產(chǎn)品本身潛在的不確定性將有可能造成難以想像、回收的災(zāi)難性結(jié)果。

市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)壓力之下，盡快的讓合格的產(chǎn)品問(wèn)世將成為成功的竅門之一，但是由于傳統(tǒng)的實(shí)機(jī)測(cè)試或是實(shí)車測(cè)試曠日費(fèi)時(shí)且成本高昂，并且有許多難以突破的瓶頸，有鑒于此，快速的自動(dòng)化測(cè)試成為一個(gè)趨勢(shì)，因?yàn)槭袌?chǎng)的商機(jī)是不等人的。

傳統(tǒng)的實(shí)車測(cè)試的缺點(diǎn)

在傳統(tǒng)的實(shí)車測(cè)試或是實(shí)機(jī)測(cè)試?yán)铮捎谒械某绦蚓鶠槭謩?dòng)，所以很難得到完整的測(cè)試結(jié)果，并且由于許多的行車狀況與故障的狀況都是很難用人工手動(dòng)的方式去產(chǎn)生的，也幾乎不可能加以重復(fù)產(chǎn)生相同或類似的狀況來(lái)做測(cè)試，而如果把人為手動(dòng)操作的錯(cuò)誤考慮進(jìn)去，要得到可靠的數(shù)據(jù)非常困難，并且設(shè)備也幾乎不可能重復(fù)使用，因?yàn)閷?shí)車測(cè)試會(huì)對(duì)許多硬體設(shè)備和周邊造成破壞。

HIL 硬體在回路測(cè)試的解決方案

針對(duì)這樣的需求，dSAPCE提出了硬體在回路測(cè)試的解決方案，利用有能力作高速即時(shí)運(yùn)算的dSPACE Simulator來(lái)演算復(fù)雜的物理模形，并且整合真實(shí)的負(fù)載模擬與各種可能產(chǎn)生的故障訊號(hào)，完全取代真正的車輛或者是引擎等實(shí)體的系統(tǒng)，讓客戶把新開(kāi)發(fā)的ECU等產(chǎn)品銜接在dSPACE的測(cè)試平臺(tái)上做詳盡的、自動(dòng)化的測(cè)試之后，排除掉絕大多數(shù)的故障和潛在問(wèn)題之后，才讓產(chǎn)品正式的排入生產(chǎn)線或是做正式的實(shí)車測(cè)試，大幅的降低可能的風(fēng)險(xiǎn)，以及實(shí)車測(cè)試對(duì)于周邊設(shè)備的高度消耗與不可重復(fù)使用所造成的額外成本。

 

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dSPACE HIL 技術(shù)的特色與優(yōu)勢(shì)

能直接將MATLAB/Simulink/Stateflow的圖形介面程式轉(zhuǎn)換成能的C程式碼。

大幅降低實(shí)車測(cè)試的次數(shù)與需求，同時(shí)減低開(kāi)發(fā)過(guò)程中雛型方案的嘗試次數(shù)，降低研發(fā)成本。

大幅提高產(chǎn)品的品質(zhì)與降低產(chǎn)品潛在不確定性造成之風(fēng)險(xiǎn)。

高速演算的Real-Time Hardware和自動(dòng)化測(cè)試軟體(AutomationDesk)所建置的環(huán)境，短時(shí)內(nèi)能做完善且系統(tǒng)化的測(cè)試，找出多數(shù)缺陷。

在回路測(cè)試設(shè)備所用的任何周邊軟體或是硬體均可重復(fù)使用，客戶可以用相同的設(shè)備和周邊做許多不同產(chǎn)品的測(cè)試。

周邊設(shè)備均為可擴(kuò)充與置換的模組化產(chǎn)品，可隨需求和研發(fā)的進(jìn)展擴(kuò)充，從一臺(tái)Simulator擴(kuò)充成Network Simulation Environment。