儀器簡介：

Huace FE -2000高溫鐵電測試儀用于鐵電體的鐵電性能測量、可用于鐵電體的科學研究及近代物理實驗中的固體物理實驗以及工業(yè)化生產(chǎn)鐵電存儲器的鐵電性能檢測中。本測試系統(tǒng)主要包括可編程信號源、微電流放大器、積分器、放大倍數(shù)可編程放大器、模/數(shù)轉換器數(shù)/模轉換器、微機接口部分、微機和應用軟件等部分組成。

Huace FE -2000鐵電材料參數(shù)測試儀主要由正弦波、三角波、間歇三角波、梯形波發(fā)生器及正、負矩形脈沖和雙極性雙脈沖發(fā)生器外加鐵電材料電滯回線、I-V特性及開關特性測量電路構成。適用于鐵電薄膜、鐵電體材料的電性能測量,可測量鐵電薄膜電滯回線、IーV特性及開關特性,可地測出具有非對稱電滯回線鐵電薄膜的Pr值。可測鐵電體材料的電滯回線及IV特性。同時也可作為ー臺通用信號發(fā)生器、高壓信號發(fā)生器使用。

測試系統(tǒng)：

本測試系統(tǒng)采用虛地模式測量電路,與傳統(tǒng)的 Sawyer- Tower模式相比,此電路取消了外接電容,可減小寄生元件的影響。此電路的測試精度僅取決于積分器積分電容的精度。減少了對測試的影響環(huán)節(jié),比較容易定標和校準,并且能實現(xiàn)較高的測量準確度。它不僅能畫出鐵電薄膜的電滯回線,還可以定量得到鐵電薄膜材料的飽和極化Ps、剩余極化Pr、矯頑場Ec、漏電流lk等參數(shù),以及對鐵電薄膜材料的鐵電疲勞性能、鐵電保持性能的測試。能夠較準確地測量鐵電薄膜的鐵電性能。儀器采用一體化設計,實現(xiàn)測試結果全數(shù)字化,操作簡單方便。

軟件功能：

HC5000系列測試系統(tǒng)的軟件平臺haceprc，采用labview系統(tǒng)開發(fā)，符合導體、半導體材料的各項測試需求，具備穩(wěn)定性，并具備斷電資料的保存功能，圖像資料可保存恢復，兼容，XP、win7、win10系統(tǒng)。

產(chǎn)品特點：

1、電滯回線測量、鐵電材料的飽和極化±PS、剩余極化±Pr、矯頑場±Ec、電容量C等參數(shù)

2、鐵電疲勞性能測量

3、鐵電保持性能測試

4、電阻測量

5、漏電流測量

6、精度高的三維移動平臺

主要應用：

1.鐵電材料的電滯回線（動態(tài)與靜態(tài)）、漏電流等特性。

2.測量記錄在薄膜樣品上施加階躍電壓時的電流響應。

3.超晶格材料在方波脈沖電壓激勵下的自漏電特性。