克萊斯勒、福特和通用汽車為建立一套通用的零件資質(zhì)及質(zhì)量系統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)立了汽車電子會(huì)(AEC)，AEC是“AutomotiveElectronicsCouncil：汽車電子協(xié)會(huì)”的簡稱，是主要汽車制造商與美國的主要部件制造商匯聚一起成立的、以車載電子部件的可靠性以及認(rèn)定標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)格化為目的的團(tuán)體，AEC建立了質(zhì)量控制的標(biāo)準(zhǔn)。同時(shí)，由于符合AEC規(guī)范的零部件均可被上述三家車廠同時(shí)采用，促進(jìn)了零部件制造商交換其產(chǎn)品特性數(shù)據(jù)的意愿，并推動(dòng)了汽車零件通用性的實(shí)施，為汽車零部件市場的**成長打下基礎(chǔ)。

芯片靜電測試(ESD)：

人體放電模式測試(HBM),JS001；

元器件充放電模式測試(CDM),JS002；

閂鎖測試(LU),JESD78；

芯片IC失效分析(FA)：

光學(xué)檢查(VI/OM)；

掃描電鏡檢查(FIB/SEM)

微光分析定位(EMMI/InGaAs)；

OBIRCH；

Micro-probe;

聚焦離子束微觀分析(FIB)

彈坑試驗(yàn)(cratering)

芯片開封(decap)

芯片去層(delayer)

晶格缺陷試驗(yàn)(化學(xué)法)

PN結(jié)染色/碼染色試驗(yàn)

推拉力測試(WBP/WBS)

紅墨水試驗(yàn)

PCBA切片分析(X-section)

高溫老化壽命試驗(yàn)

芯片材料分析：

高分辨TEM(形貌、膜厚測量、電子衍射、STEM、HAADF)；

SEM(形貌觀察、截面觀察、膜厚測量、EBSD)

Raman(Raman光譜)

AFM(微觀表面形貌分析、臺(tái)階測量)

高溫老化壽命試驗(yàn)

AECQ測試標(biāo)準(zhǔn)

AEC-Q100芯片應(yīng)力測試（StressTest）的認(rèn)證規(guī)范

AEC-Q100-001邦線切應(yīng)力測試

AEC-Q100-002人體模式靜電放電測試

AEC-Q100-004集成電路閂鎖效應(yīng)測試

AEC-Q100-005可寫可擦除的性記憶的耐久性數(shù)據(jù)保持及工作壽命的測試

AEC-Q100-007故障仿真和測試等級(jí)

AEC-Q100-008早期壽命失效率（ELFR）

AEC-Q100-009電分配的評(píng)估

AEC-Q100-010錫球剪切測試

AEC-Q100-011帶電器件模式的靜電放電測試

AEC-Q100-01212V系統(tǒng)靈敏功率設(shè)備的短路可靠性描述

高溫老化壽命試驗(yàn)

如今汽車市場競爭激烈，不管是投標(biāo)還是**市場，要想盡早進(jìn)入汽車領(lǐng)域并且立足，AECQ系列認(rèn)證都將會(huì)是車企的。GRGT實(shí)驗(yàn)室多年年AECQ系列認(rèn)證經(jīng)驗(yàn)，始終以、、**、全面的品質(zhì)保障，為客戶的運(yùn)營和供應(yīng)鏈帶來的安心保障。

AEC-Q100標(biāo)準(zhǔn)的目標(biāo)是提高產(chǎn)品的良品率，這對(duì)芯片供貨商來說，不論是在產(chǎn)品的尺寸、合格率及成本控制上都面臨很大的挑戰(zhàn)。不管是投標(biāo)還是**市場，要想盡早進(jìn)入汽車領(lǐng)域并且立足，AECQ系列認(rèn)證都將會(huì)是車企的。廣電計(jì)量14余年AECQ系列認(rèn)證經(jīng)驗(yàn)，始終以、、**、全面的品質(zhì)保障，為客戶的運(yùn)營和供應(yīng)鏈帶來的安心保障。