克萊斯勒、福特和通用汽車為建立一套通用的零件資質(zhì)及質(zhì)量系統(tǒng)標準而設立了汽車電子會(AEC)，AEC是“AutomotiveElectronicsCouncil：汽車電子協(xié)會”的簡稱，是主要汽車制造商與美國的主要部件制造商匯聚一起成立的、以車載電子部件的可靠性以及認定標準的規(guī)格化為目的的團體，AEC建立了質(zhì)量控制的標準。同時，由于符合AEC規(guī)范的零部件均可被上述三家車廠同時采用，促進了零部件制造商交換其產(chǎn)品特性數(shù)據(jù)的意愿，并推動了汽車零件通用性的實施，為汽車零部件市場的成長打下基礎。

壽命老化測試

芯片可靠性驗證(RA)：

芯片級預處理(PC)&MSL試驗、J-STD-020&JESD22-A113；

高溫存儲試驗(HTSL),JESD22-A103；

溫度循環(huán)試驗(TC),JESD22-A104；

溫濕度試驗(TH/THB),JESD22-A101；

高加速應力試驗(HTST/HAST),JESD22-A110；

高溫老化壽命試驗(HTOL),JESD22-A108；

高溫老化壽命試驗

AEC-Q100對IC的可靠性測試可細分為加速環(huán)境應力可靠性、加速壽命模擬可靠性、封裝可靠性、晶圓制程可靠性、電學參數(shù)驗證、缺陷篩查、包裝完整性試驗，且需要根據(jù)器件所能承受的溫度等級選擇測試條件。需要注意的是，第三方難以立完成AEC-Q100的驗證，需要晶圓供應商、封測廠配合完成，這*加考驗對認證試驗的整體把控能力。中科檢測將根據(jù)客戶的要求，依據(jù)標準對客戶的IC進行評估，出具合理的認證方案，從而助力IC的可靠性認證

高溫老化壽命試驗

芯片材料分析：

高分辨TEM(形貌、膜厚測量、電子衍射、STEM、HAADF)；

SEM(形貌觀察、截面觀察、膜厚測量、EBSD)

Raman(Raman光譜)

AFM(微觀表面形貌分析、臺階測量)

高溫老化壽命試驗

以下供大家參考使用：

AEC-Q100Rev-Gbase:集成電路的應力測試標準（不包含測試方法）

AEC-Q100-001邦線切應力測試

AEC-Q100-002人體模式靜電放電測試

AEC-Q100-003機械模式靜電放電測試

AEC-Q100-004集成電路閂鎖效應測試

AEC-Q100-005可寫可擦除的性記憶的耐久性、數(shù)據(jù)保持及工作壽命的測試

AEC-Q100-006熱電效應引起的寄生閘漏電流測試

AEC-Q100-007故障仿真和測試等級

AEC-Q100-008早期壽命失效率（ELFR）

AEC-Q100-009電分配的評估

AEC-Q100-010錫球剪切測試

AEC-Q100-011帶電器件模式的靜電放電測試

AEC-Q100-01212V系統(tǒng)靈敏功率設備的短路可靠性描述

AEC-Q101Rev-C:分立半導體元件的應力測試標準（包含測試方法）

AEC-Q101-001-Rev-A:人體模式靜電放電測試

AEC-Q101-002-Rev-A:機械模式靜電放電測試

AEC-Q101-003-Rev-A:邦線切應力測試

AEC-Q101-004-Rev-:同步性測試方法

AEC-Q101-005-Rev-A:帶電器件模式的靜電放電測試

AEC-Q101-006-Rev-:12V系統(tǒng)靈敏功率設備的短路可靠性描述

AEC-Q200Rev-C:半導體被動元件的應力測試標準（包含測試方法）

AEC-Q200-001-Rev-A:阻燃性能測試

AEC-Q200-002-Rev-A:人體模式靜電放電測試

AEC-Q200-003-Rev-A:斷裂強度測試

AEC-Q200-004-Rev-:自恢復保險絲測量程序

AEC-Q200-005-Rev-:PCB板彎曲/端子綁線應力測試

AEC-Q200-006-Rev-:端子應力（貼片元件）/切應力測試

AEC-Q200-007-Rev-:電壓浪涌測試

AEC-Q100作用

中科檢測，經(jīng)過50余年的發(fā)展，現(xiàn)已成為一家全國化、綜合性的國有第三方計量檢測機構，專注于為客戶提供計量、檢測、認證以及技術咨詢與培訓等技術服務，在計量校準、可靠性與環(huán)境試驗、元器件篩選與失效分析檢測、車規(guī)元器件認證測試、電磁兼容檢測等多個領域的技術能力及業(yè)務規(guī)模處于國內(nèi)水平。