D20 EME Ge d20 eme pcb電路板

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I六面檢查機(jī)設(shè)備檢測(cè)流程：整批料件進(jìn)入臺(tái)達(dá)AI六面檢查機(jī)內(nèi)建的震動(dòng)盤(pán)內(nèi)，經(jīng)過(guò)整料后，放入玻璃盤(pán)進(jìn)行帶動(dòng)，高速檢測(cè)轉(zhuǎn)盤(pán)將電子料件運(yùn)送至彩色CCD檢測(cè)站 (臺(tái)達(dá)AOI檢測(cè)) 進(jìn)行六個(gè)面的檢查 (前照檢測(cè)、下照檢測(cè)、右照檢測(cè)、左照檢測(cè)、后照檢測(cè)、上照檢測(cè))，另外，臺(tái)達(dá)AI六面檢查機(jī)預(yù)留兩個(gè)檢測(cè)站作為備用檢測(cè)使用，客戶(hù)可自行輸入電腦影像處理演算法于CCD檢測(cè)站，進(jìn)行自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)，再經(jīng)過(guò)臺(tái)達(dá)AI人工智能檢測(cè)系統(tǒng)，能有效克服AOI難以檢出的暗裂及微裂等瑕疵，最后進(jìn)行分料作業(yè)，杜絕將不良產(chǎn)品流至客戶(hù)端?？蛻?hù)在導(dǎo)入臺(tái)達(dá)AI六面檢查機(jī)后帶來(lái)的優(yōu)勢(shì)包含：? 提升產(chǎn)品檢出速度，節(jié)省作業(yè)時(shí)間：臺(tái)達(dá)檢測(cè)系統(tǒng)運(yùn)行穩(wěn)定，支持高速檢測(cè)，檢測(cè)速度可達(dá)8,000 pcs / min，大幅提升檢測(cè)效率；可針對(duì)客戶(hù)需求，量身打造檢測(cè)演算法，其AI檢測(cè)系統(tǒng)結(jié)合人工智能，持續(xù)優(yōu)化制程，并支持快速換線(xiàn)、強(qiáng)化離線(xiàn)檢出調(diào)整系統(tǒng)，優(yōu)化人員調(diào)整效率，降低人工目檢造成的品質(zhì)不穩(wěn)定與人力成本。

? 提升產(chǎn)品檢出率，減少產(chǎn)品誤判率：臺(tái)達(dá) AOI + AI 檢測(cè)系統(tǒng)含有白光及復(fù)合光源系統(tǒng)及人工智能演算法，可偵測(cè)多種尺寸與材質(zhì)，像是反光物及特殊缺陷 (暗裂及微裂等瑕疵) ，最小檢測(cè)元件尺寸可達(dá)