廣州景頤光電科技有限公司
主營(yíng)產(chǎn)品: 其他光學(xué)儀器
反光率測(cè)試儀定做-全光譜反光率測(cè)試儀-景頤光電
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¥40000.00
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廣州景頤光電科技有限公司
店齡5年 企業(yè)認(rèn)證
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蔡經(jīng)理
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經(jīng)營(yíng)模式
生產(chǎn)加工
所在地區(qū)
廣東省廣州市
主營(yíng)產(chǎn)品
反射率檢測(cè)儀
廣州景頤光電科技有限公司從事光學(xué)和光機(jī)電產(chǎn)品的研發(fā),生產(chǎn),市場(chǎng)推廣和銷售。公司經(jīng)營(yíng)的產(chǎn)品包括透過率檢測(cè)儀、透過率測(cè)試儀,光譜儀,激光器檢測(cè)儀,反射率檢測(cè)儀,積分球等光學(xué)檢測(cè)儀器??蓮V泛應(yīng)用于光學(xué)領(lǐng)域的科研,教學(xué),產(chǎn)品開發(fā)和規(guī)模生產(chǎn),產(chǎn)品已涉及光學(xué)元件、照明電器、LED行業(yè)、化學(xué)、環(huán)保、生物、水質(zhì)分析等多個(gè)領(lǐng)域。
景頤光電的反射率檢測(cè)儀的應(yīng)用領(lǐng)域有哪些?
■手機(jī)蓋板、平板后蓋板等反射率檢測(cè)
■燈罩、反光杯、汽車后視鏡等反光率檢測(cè)
■涂料、顏料、油墨、塑料等反射率譜圖測(cè)量及顏色分選。
■銅片等金屬物體反射率光譜測(cè)量
■礦石粉末反射率光譜測(cè)量
■不透明薄膜反射率測(cè)量
■光學(xué)元件反射率檢測(cè)
■太陽能硅片反射率檢測(cè)
■織物測(cè)量
■珠寶翡翠鉆石的鑒定
■固體樣品的反射率檢測(cè)
廣州景頤光電科技有限公司成立于2013年.專業(yè)提供品質(zhì)實(shí)驗(yàn)室和工業(yè)檢測(cè)儀器設(shè)備(光譜儀),多年來,景頤光電一步步發(fā)展、一步步壯大,今天已經(jīng)發(fā)展成為一家立足上海、輻射華東的極具實(shí)力的實(shí)驗(yàn)室和工業(yè)檢測(cè)儀器設(shè)備供應(yīng)商。景頤光電已成長(zhǎng)為國(guó)內(nèi)分析儀器制造的龍頭企業(yè),是中國(guó)中小企業(yè)發(fā)展做大的一個(gè)典型代表,在單產(chǎn)品做到好之后,逐步延伸至其他類型分析儀器。隨時(shí)為客戶OEM/ODM項(xiàng)目提供優(yōu)質(zhì)服務(wù)。國(guó)內(nèi)市場(chǎng)總部位于廣州,負(fù)責(zé)國(guó)內(nèi)市場(chǎng)的銷售及售后服務(wù)。公司的各項(xiàng)管理和規(guī)章制度嚴(yán)格遵循ISO9001的標(biāo)準(zhǔn),產(chǎn)品完全符合國(guó)際質(zhì)量認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)CE,UL,GS以及符合環(huán)保ROHS要求,10年的產(chǎn)品生產(chǎn)和銷售經(jīng)驗(yàn),科學(xué)的管理以及專業(yè)開發(fā)設(shè)計(jì)人才造就了高科技,,美觀大方的產(chǎn)品,深受全球各地用戶的信賴與好評(píng)。
JY-F03反射率檢測(cè)儀可測(cè)量各類物體的反射比及反射率曲線,并對(duì)物質(zhì)的顏色特性進(jìn)行分析,實(shí)現(xiàn)全光譜反射率同時(shí)快速檢測(cè)。滿足各類國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)。采用積分球測(cè)量方式,測(cè)量角度可根據(jù)需求定制,光源輸出穩(wěn)定性高、測(cè)量速度快,實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)測(cè)量操作。
特點(diǎn):
●測(cè)定時(shí)間短,單次測(cè)試時(shí)間1秒內(nèi)
●專利技術(shù)產(chǎn)品
●第三方檢測(cè)證書
●測(cè)試波長(zhǎng)范圍250-800nm、400-1000nm、900-1700nm(特殊波長(zhǎng)可定制)
●采用鹵素?zé)艄庠椿蜴u燈光源,光源輸出均勻穩(wěn)定
●支持XY色度圖、L·a·b測(cè)定,可以依據(jù)分光測(cè)色法,通過分光反射率測(cè)定物體顏色
●操作簡(jiǎn)便,使用靈活
●儀器終生保修
●可定制工業(yè)在線自動(dòng)檢測(cè)方案
反射率檢測(cè)儀
同眼鏡片中心透射比的測(cè)量類似,由于眼鏡片表面都是帶有一定曲率的球面或非球面,對(duì)光線有發(fā)散作用。一般的光譜反射比測(cè)量?jī)x器通常只是設(shè)計(jì)用于測(cè)量平面樣品的光譜反射比,直接測(cè)量眼鏡片的光反射比從理論上會(huì)產(chǎn)生誤差,因此從理論上測(cè)量眼鏡片的反射比也應(yīng)使用專門的測(cè)量裝置,但目前市場(chǎng)上尚無專門為眼鏡片反射比測(cè)量設(shè)計(jì)的反射比測(cè)量裝置,各個(gè)檢測(cè)機(jī)構(gòu)測(cè)量眼鏡片反射比均使用普通的光譜反射比測(cè)量裝置。反光率測(cè)試儀
反射附件具有測(cè)量 8°~70°鏡向反射比的能力,可以直接測(cè)量樣品的反射比,而無需像相對(duì)反射比測(cè)量?jī)x器測(cè)量反射比需先測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)反射鏡,再測(cè)量樣品的反射比。反光率測(cè)試儀