價(jià)格面議-多用途超聲掃描顯微鏡-TO系列封裝分層-氣孔檢測
價(jià)格
訂貨量(個(gè))
¥1000000.00
≥1
¥990000.00
≥2
¥980000.00
≥5
店鋪主推品 熱銷潛力款
㠗㠔㠓㠒㠗㠙㠚㠖㠘㠘㠗
在線客服
超聲掃描顯微鏡是以波形、圖形為顯示方式的一種無損檢測工具。該產(chǎn)品主要利用高頻的超聲波(5MHz以上)檢測器件、材料內(nèi)部的缺陷位置、大小和分布狀態(tài)等,對粘接層面非常敏感,能檢測出氣孔、裂紋、夾雜和分層等缺陷,可以保留在破壞性檢測中被丟失的細(xì)微缺陷,樣品通過檢測后可以繼續(xù)使用。主要應(yīng)用于失效分析、可靠性分析、制程控制、品質(zhì)控制,產(chǎn)品研發(fā)、工藝提升等。
技術(shù)特點(diǎn):
■ 采用專用工控機(jī),雙核處理器,雙顯示器;其上搭載的ICsam超聲掃描檢測軟件為廣林達(dá)自主研發(fā),功能可持續(xù)升級,中文操作界面便于閱讀。
■ 多種檢測模式:A、B、C掃描,逐層掃描,多層掃描,輪廓掃描,數(shù)據(jù)采集掃描,跳躍C掃描等。
■ 專門針對大板Panel級封裝定制硬件和軟件功能。
■ 支持多個(gè)檢測結(jié)果圖像同時(shí)顯示,并能重新進(jìn)行分析處理。
■ 具有強(qiáng)大的圖像處理軟件包,能夠進(jìn)行圖像的縮放、拖動、測量注釋、濾波、偽彩色著色處理。
應(yīng)用領(lǐng)域:
■ 半導(dǎo)體器件及封裝:
塑封IC、分立器件、各種封裝外殼、光電器件、微波功率器件、MEMS器件、晶圓粘接、智能卡、倒裝芯片、板載芯片,芯片級封裝(CSP),堆疊封裝、MCM多芯片模塊BGA,WLCSP,F(xiàn)anout, Panel級封裝。
■ 材料檢測:
金剛石復(fù)合片、陶瓷、玻璃、金屬、塑料,碳纖維復(fù)合材料,水冷壁焊接件等。
■ IGBT功率模組產(chǎn)品檢測:
實(shí)現(xiàn) IGBT 模塊內(nèi)部界面和結(jié)構(gòu)缺陷的無損檢測,準(zhǔn)確找到 IGBT 模塊材料、工藝中出現(xiàn)的問題,篩選不合格產(chǎn)品,并促進(jìn) IGBT 模塊的封裝質(zhì)量提升。