LDC-3916 的所有 TEC 控制模塊均包括電壓測(cè)量功能，并支持內(nèi)部熱敏電阻電流選擇，可通過(guò)前面板或遠(yuǎn)程地控制較大的溫度范圍。
為眾多應(yīng)用提供靈活控制
通過(guò)將模塊化與高通道密度相結(jié)合，LDC-3916 可輕松適配各類(lèi)應(yīng)用。該系統(tǒng)可用于在放大器測(cè)試或低通道數(shù)老化應(yīng)用中控制多個(gè)泵浦激光器。LDC-3916 可與 ILX 的 LDM-4616 16 通道激光二管夾具結(jié)合使用，構(gòu)成經(jīng)濟(jì)實(shí)惠的 DWDM 光源測(cè)試組。對(duì)于皮米級(jí)波長(zhǎng)調(diào)諧，應(yīng)選擇具有 0.01°C 溫度設(shè)定值分辨率的 LDC-3916371 模塊。

The Model 8000 mainframe automatically detects which module is located in each bay and displays the entire system configuration on the large LCD display. All you do is follow on-screen instructions to configure and operate the modular system.

The MAP-200 mainframes are offered in three configurations for optimal adaptability within test sets: a three-slot configuration and a 19-inch rack, eight-slot configuration with either front- or rear-facing orientation for optimal fiber routing. All three configurations are 3 RU high. The MAP-200 mainframes include all hardware required for bench-top use, including rubber-accented feet located at the corners for optimal stability and vibration isolation. Investment protection is maximized for previous-generation MAP customers using a simple transition kit that allows the insertion of previously field-deployed MAP modules in the MAP-200 mainframe. The MAP-200 also allows users to share the modules within a mainframe.

Features:
?DVI Port for External Display
?GPIB and LXI-Compliant (Ethernet)
?USB Device Ports for External Keyboard and Mouse
?Field Replaceable Controller/Power Supply Module
The JDSU MAP-200 Series Multiple Application Platforms are an optical test and measurement platform optimized for cost-effective development and manufacturing of optical transmission network elements. Today's rapidly changing optical market requires investment in productivity-enhancing technologies and tools, making the MAP-200 scalable test platform the right tool needed in even the most stringent environments. Based on the previous-generation Multiple Application Platform (MAP), the MAP-200 builds on the differentiation of offering the broadest portfolio of modules in the densest and most configurable platform. The MAP-200 is optimized for test applications in lab and manufacturing environments ranging from insertion loss testing to dispersion penalty testing.