在于自然界中，二氧化硅無(wú)處不在，它是礦石、硅酸鹽、水泥等的主要成分，因此二氧化硅的成分分析非常重要，目前測(cè)定二氧化硅含量的方法很多，下面就為大家詳細(xì)介紹一下二氧化硅的測(cè)定方法。

一、重量法

重量法一般被看作是測(cè)定二氧化硅的經(jīng)典方法，準(zhǔn)確度高，但是重量法也有不少缺點(diǎn)，比如操作繁瑣，分析周期長(zhǎng)等等，目前已被容量法、比色法等取代。

二、比色法

比色法一般用于檢測(cè)二氧化硅含量小于2%的試樣，包括硅鉬藍(lán)和硅鉬黃兩種方法。硅鉬黃方法基于鉬酸銨與單硅酸在適宜的情況下生成了的硅鉬黃，而硅鉬藍(lán)方法是用還原劑把硅鉬黃還原成硅鉬藍(lán)。在預(yù)定的條件下，依據(jù)或者藍(lán)色的硅鉬黃或硅鉬藍(lán)的顏色深度測(cè)出二氧化硅的含量。雖然硅鉬黃法能比硅鉬藍(lán)法測(cè)出較高含量的二氧化硅，但由于前者的靈敏度遠(yuǎn)后者的，因此一般選用硅鉬藍(lán)比色法測(cè)定少量的二氧化硅。

三、氟硅酸鉀容量法

目前，該方法已經(jīng)成功應(yīng)用于粘土、礦石、水泥、鉀水玻璃、地質(zhì)樣品、硅石等試樣中二氧化硅含量的檢測(cè)。

四、X射線熒光光譜法（XRF）

相對(duì)于傳統(tǒng)化學(xué)方法，XRF檢測(cè)速度、測(cè)定范圍寬、準(zhǔn)確度高、分析的元素多、可同時(shí)直接分析粉末、液體和固體樣品的元素含量。該方法已用于石灰石、白云石、鋁土礦物及高鋁質(zhì)耐火磚等樣品中二氧化硅的檢測(cè)。

五、電感耦合等離子體發(fā)射光譜法（ICP-AES）

由于傳統(tǒng)化學(xué)法操作步驟繁瑣、勞動(dòng)強(qiáng)度大、效率低等，難以達(dá)到生產(chǎn)中要求的檢測(cè)的目標(biāo)，而X射線熒光光譜儀器價(jià)格昂貴，因此逐漸開(kāi)始用ICP-AES法檢測(cè)鉻礦石、稀土精礦、燒結(jié)礦、白云石等樣品中二氧化硅的含量。該方法具有分析用時(shí)短、精密度好、準(zhǔn)確度高等優(yōu)點(diǎn)，適用于大批量白云石和石灰石樣品的準(zhǔn)確分析。

這些方法均可以用來(lái)分析試樣中二氧化硅的含量，在實(shí)際的檢測(cè)工作中，要依據(jù)待測(cè)樣品的不同特點(diǎn)來(lái)選擇合適的分析方法，從而得到較理想的檢測(cè)結(jié)果