方管鋼結(jié)構(gòu)無(wú)損檢測(cè)焊縫超聲波探傷檢驗(yàn)磁粉探傷測(cè)試
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測(cè)試溫度 曲線
報(bào)告應(yīng)用 效果
周期 根據(jù)項(xiàng)目
效率 可加急
是否可以郵寄 可以
樣品要求 根據(jù)情況
所屬行業(yè) 檢測(cè)
應(yīng)用 材料質(zhì)量檢驗(yàn)
需要檢測(cè) 驗(yàn)收
報(bào)告發(fā)放 紙質(zhì)版和標(biāo)簽
是否可加急 根據(jù)情況
檢測(cè)類型 委托檢驗(yàn)
檢測(cè)周期 根據(jù)協(xié)議
服務(wù)方式 一對(duì)一服務(wù)
商品介紹

一、無(wú)損檢測(cè)概述

無(wú)損檢測(cè)分析

無(wú)損檢測(cè)無(wú)損檢測(cè)是在不損壞工件或原材料工作狀態(tài)的前提下,對(duì)被檢驗(yàn)部件的表面和內(nèi)部質(zhì)量進(jìn)行檢查的一種測(cè)試手段。

無(wú)損檢測(cè)方法

常用的無(wú)損檢測(cè)方法有:X光射線探傷、超聲波探傷、磁粉探傷、滲透探傷、渦流探傷、γ射線探傷、螢光探傷、著色探傷等方法。

二、無(wú)損檢測(cè)項(xiàng)目

超聲波檢測(cè)

超聲波檢測(cè)的基本原理

超聲波檢測(cè)是利用超聲能透入金屬材料的深處,并由一截面進(jìn)入另一截面時(shí),在界面邊緣發(fā)生反射的特點(diǎn)來(lái)檢查零件缺陷的一種方法,當(dāng)超聲波束自零件表面由探頭通至金屬內(nèi)部,遇到缺陷與零件底面時(shí)就分別發(fā)生反射波來(lái),在螢光屏上形成脈沖波形,根據(jù)這些脈沖波形來(lái)判斷缺陷位置和大小。

超聲波檢測(cè)的主要特性

1、超聲波在介質(zhì)中傳播時(shí),在不同質(zhì)界面上具有反射的特性,如遇到缺陷,缺陷的尺寸等于或大于超聲波波長(zhǎng)時(shí),則超聲波在缺陷上反射回來(lái),檢測(cè)儀可將反射波顯示出來(lái);如缺陷的尺寸甚至小于波長(zhǎng)時(shí),聲波將繞過(guò)射線而不能反射;

2、波聲的方向性好,頻率越高,方向性越好,以很窄的波束向介質(zhì)中輻射,易于確定缺陷的位置。

3、超聲波的傳播能量大,如頻率為1MHZ(100赫茲)的超生波所傳播的能量,相當(dāng)于振幅相同而頻率為1000HZ(赫茲)的聲波的100萬(wàn)倍。

超生波檢測(cè)板厚14毫米時(shí),距離波幅曲線上三條主要曲線的關(guān)系

測(cè)長(zhǎng)線 Ф1 х 6 -12dB

定量線 Ф1 х 6 -6dB

判度線 Ф1 х 6 -2dB

射線檢測(cè)

射線檢測(cè)原理:射線檢測(cè)是利用 X射線或γ射線在穿透被檢物各部分時(shí)強(qiáng)度衰減的不同,檢測(cè)被檢物中缺陷的一種無(wú)損檢測(cè)方法。

特點(diǎn)特色

射線照相法能較直觀地顯示工件內(nèi)部缺陷的大小和形狀,因而易于判定缺陷的性質(zhì),射線底片可作為檢驗(yàn)的原始記錄供多方研究并作長(zhǎng)期保存。但這種方法耗用的X射線膠片等器材費(fèi)用較高,檢驗(yàn)速度較慢,只宜探查氣孔、夾渣、縮孔、疏松等體積性缺陷,而不yi發(fā)現(xiàn)間隙很小的裂紋和未熔合等缺陷以及鍛件和管、棒等型材的內(nèi)部分層性缺陷。此外,射線對(duì)人體有害,需要采取適當(dāng)?shù)姆雷o(hù)措施。

磁粉檢測(cè)

磁粉檢測(cè)原理:磁粉檢測(cè)是用來(lái)檢測(cè)鐵磁性材料表面和近表面缺陷的一種檢測(cè)方法。當(dāng)工件磁化時(shí),若工件表面有缺陷存在,由于缺陷處的磁阻而產(chǎn)生漏磁,形成局部磁場(chǎng),磁粉便在此處顯示缺陷的形狀和位置,從而判斷缺陷的存在。

磁粉檢測(cè)種類

1、按工件磁化方向的不同,可分為周向磁化法、縱向磁化法、復(fù)合磁化法和旋轉(zhuǎn)磁化法。

2、按采用磁化電流的不同可分為:直流磁化法、半波直流磁化法、和交流磁化法。

3、按檢測(cè)所采用磁粉的配制不同,可分為干粉法和濕粉法。

4:滲透檢測(cè)

1、著色(滲透)檢測(cè)的基本原理

著色(滲透)檢測(cè)的基本原理是利用毛細(xì)現(xiàn)象使?jié)B透液滲入缺陷,經(jīng)清洗使表面滲透液支除,而缺陷中的滲透殘留,再利用顯像劑的毛細(xì)管作用吸附出缺陷中殘留滲透液而達(dá)到檢驗(yàn)缺陷的目的。

2、著色(滲透)檢測(cè)靈敏度的主要因素

1、滲透劑的性能的影響。

2、乳化劑的乳化效果的影響。

3、顯像劑性能的影響。

4、操作方法的影響。

5、缺陷本身性質(zhì)的影響。

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