無損檢測(cè)就是Non Destructive Testing，縮寫是NDT（或NDE，non-destructive examination），也叫無損探傷，是在不損害或不影響被檢測(cè)對(duì)象使用性能的前提下，采用射線、超聲、紅外、電磁等原理技術(shù)并結(jié)合儀器對(duì)材料、零件、設(shè)備進(jìn)行缺陷、化學(xué)、物理參數(shù)檢測(cè)的技術(shù)。

無損檢測(cè)的大優(yōu)點(diǎn)就是檢測(cè)時(shí)，不會(huì)損壞被檢對(duì)象的材質(zhì)、結(jié)構(gòu)。但是，無損檢測(cè)也有其自身的局限性，比如破壞性檢測(cè)是無損檢測(cè)的。通常，我們會(huì)把無損檢測(cè)的結(jié)果與破壞性實(shí)驗(yàn)的結(jié)果互相配合，做出準(zhǔn)確的。

常規(guī)無損檢測(cè)方法有：－超聲檢測(cè) （縮寫 UT）；－射線檢測(cè) （縮寫 RT）；－磁粉檢測(cè) （縮寫 MT）；－滲透檢驗(yàn) （縮寫 PT）；－渦流檢測(cè) （縮寫 ET）；X射線探傷儀、磁粉探傷儀、超聲波探傷儀和著色探傷各有什么優(yōu)缺點(diǎn)? 超聲波探傷是利用聲波檢查內(nèi)部質(zhì)量，優(yōu)點(diǎn)是靈敏度高，但是無法明確判定缺陷的性質(zhì)，需要一定的經(jīng)驗(yàn)。

射線探傷是檢查內(nèi)部質(zhì)量，優(yōu)點(diǎn)是形象直觀，但是無法判定缺陷深度。

磁粉探傷是檢查表面及近表面的缺陷。滲透探傷室檢查表面開口狀缺陷。