
德國巴魯夫RFID低頻處理單元BIS-L-6000-007-050-00-ST15-訂貨號-BIS00E3
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德國巴魯夫RFID高頻讀/寫頭BISL-6000-007-050-00-ST15 訂貨號 BIS00E3
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,盡管電源管理技術(shù)的進(jìn)步使得充電時(shí)間得以大幅減少,但仍然比傳統(tǒng)加油站要長得多。雖然充電基礎(chǔ)設(shè)施正在快速擴(kuò)張,尤其是像大眾汽車這樣的公司在美國投資20億美元用于清潔汽車基礎(chǔ)設(shè)施,這也是其為處理柴油機(jī)排放丑聞的努力之一。但許多公司正在尋找其他方式,能夠更便利地對車輛進(jìn)行充電。其中一個(gè)正在討論和評估中的關(guān)鍵技術(shù)是無線充電,特別是最終能夠動(dòng)態(tài)地為車輛充電。雖然許多人視無線充電為新技術(shù),但其實(shí)它已有百年歷史。
老化測試是產(chǎn)品生產(chǎn)中必不可少的環(huán)節(jié),對于CAN通信設(shè)備如何進(jìn)行批量的老化測試呢?本文將從成本及方案優(yōu)化兩方面簡述測試方法。什么是老化測試?yán)匣瘻y試是將產(chǎn)品置于實(shí)際使用環(huán)境中評測其使用壽命、穩(wěn)定性等指標(biāo)的一種測試方式。比如對塑膠材料制品,常使用光照老化、濕熱老化、熱風(fēng)老化。對于電子設(shè)備的老化測試,除了以上材料老化測試還經(jīng)常需要上電測試,以此來考驗(yàn)產(chǎn)品的穩(wěn)定性。老化測試通常在專用的老化室中進(jìn)行。老化室CAN通訊設(shè)備老化測試對于CAN通信設(shè)備的老化測試,主要是功能性老化測試。
此類紅外熱像儀不需要制冷,且成本比量子探測器紅外熱像儀低。制冷型量子探測器采用銻華銦(InS、銦鎵砷(InGaAs)或應(yīng)變超晶格制成。這類探測器為光電探測器,即光子撞擊像素點(diǎn),轉(zhuǎn)化為可存儲于積分電容器的電子。像素采用的電子快門,通過斷開或短路積分電容器來控制快門。銻化銦(InSb)探測器熱像儀,比如FLIRX69sc,在測量-2?C至35?C之間的物體溫度時(shí),其典型的積分時(shí)間可能低至.48μs。
由于需要連接至發(fā)動(dòng)機(jī),所以TCU和變速箱位于發(fā)動(dòng)機(jī)室中或在發(fā)動(dòng)機(jī)室附近。但當(dāng)發(fā)動(dòng)機(jī)室內(nèi)達(dá)到極端溫度時(shí),就會帶來損壞的風(fēng)險(xiǎn)。TCU模塊包含具有很多集成電路元件的電路板,如對高溫非常敏感的微控制器。許多MCU都具有某些形式的集成溫度傳感功能,但它們通常不夠,只能達(dá)到TCU模塊整體溫度的粗略近似值。LM71-Q1是一種外部溫度傳感器,能夠通過串行外設(shè)接口(SPI)直接將溫度數(shù)據(jù)傳輸給MCU,這樣一來便無需使用模數(shù)轉(zhuǎn)換器通道和/或查詢表。

