德國巴魯夫RFID高頻讀/寫頭BISM-108-11/A 訂貨號 BIS011F

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泰克科技公司日前宣布，為Keithley4200A-SCS參數(shù)分析儀推出兩款源測量單元(SMU)模塊，即使在由于長電纜和復雜的測試設置而產(chǎn)生高負載電容時，其仍能執(zhí)行低電流測量。許多主要測試應用都面臨著這一挑戰(zhàn)，如LCD顯示器制造和卡盤上的納米FET器件測試。在被測器件本身電容很小的情況下，許多低電流測量應用中所需要的測試設置也會增加SMU輸出端的電容。當測試連接電容太大時，最終的低電流測量結果可能會變得不穩(wěn)定。
在這一系列中，我將討論差分對的特點，以及針對高速數(shù)據(jù)傳輸?shù)脑O計問題和解決方案。在這一系列的部分中，讓我們研究一下差分對的主要要求：A線路和B線路都需要保持相當恒定和相等的特性阻抗，通常稱為奇模阻抗，此時兩條線路均差分激勵。差分信號應該在到達目的端時保持差分信號的屬性：幾乎相等的振幅和相反的相位。每條線路的插入損耗應該大致相等。每條線路的傳播延遲應該大致相等?？傊覀儜搶で笙嗟炔⑶蚁喈敽愣ǖ钠婺Ｗ杩?，從而限度地減少從源端到目的端整條差分對長度上的阻抗波動。



是全實物測試，將待測裝備置于演習或?qū)嶋H戰(zhàn)區(qū)，利用實際存在的復雜電磁環(huán)境對裝備性能進行測試。此種方式說服力，通常作為成熟型號裝備的最終測試方法。因為此方式成本極高、風險大，很多場合是破壞性測試，并且所得到測試結果不具備遍歷性，無法滿足裝備研制過程中的絕大多數(shù)的常規(guī)測試需求。第二種是基于計算機、數(shù)據(jù)庫等技術的全數(shù)字仿真測試。這種技術是通過數(shù)據(jù)采集或者數(shù)學建模的方式，將實際電磁環(huán)境的主要特征信息以數(shù)字格式存儲于數(shù)據(jù)庫中，在某種特定仿真算法的驅(qū)動下，對待測裝備的性能進行全數(shù)字仿真測試。
更有全新ETCR2F整合式柔性線圈電流傳感器(帶積分器)，使用與攜帶更方便。分離式可以讓用戶自由搭配不容的柔性線圈，而整體式結構讓用操作更加便捷靈活；線圈部分無任何裸露金屬導體，非接觸測量，安全可靠；其體積小、重量輕、外觀精美、柔軟靈活的結構特點更是適合于狹窄環(huán)境和排線密集的場所使用。其測量范圍寬、精度高、可靠性強、響應頻帶寬(.1Hz-1MHz)，用戶可根據(jù)需求自主定制線圈長度；因而廣泛適用于電力、通信、氣象、鐵路、油田、建筑、計量、科研教學單位和工礦企業(yè)等領域；尤其適合繼電保護、可控硅整流、變頻調(diào)速、半導體開關、功率電子轉換設備、電弧焊接等信號嚴重畸變的工業(yè)環(huán)境。

德國巴魯夫RFID高頻讀/寫頭BISL-100-01/L 訂貨號 BIS0033