軟包動(dòng)力電池蓋板氦氣檢漏設(shè)備 氦氣檢漏設(shè)備 科儀創(chuàng)新
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軟包動(dòng)力電池蓋板氦氣檢漏設(shè)備-氦氣檢漏設(shè)備-科儀創(chuàng)新

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北京科儀創(chuàng)新真空技術(shù)有限公司

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商品介紹
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響應(yīng)時(shí)間 ≤1 S
檢大漏功能 具備
檢測(cè)氣體 He2
可檢漏率 5×10-13 Pa·m3/s
漏率顯示范圍 1×10-2 ~1.0×10-13
質(zhì)譜室內(nèi)部壓力 3×10-3Pa
檢漏口檢漏壓力 1500Pa(高達(dá)2500Pa)
啟動(dòng)時(shí)間 ≤100 S
產(chǎn)品編號(hào) 15011154
商品介紹
北京科儀創(chuàng)新真空技術(shù)有限公司主營(yíng):“真空箱式氦檢漏設(shè)備”,“LNG低溫容器抽真空設(shè)備”




氦質(zhì)譜檢漏儀的注意事項(xiàng)

檢漏儀的響應(yīng)時(shí)間會(huì)影響檢漏工作的速度,正常運(yùn)行的儀器響應(yīng)時(shí)間不大于3s。筆者實(shí)測(cè)時(shí),在漏點(diǎn)處噴射氦氣5~10s后,檢漏儀就發(fā)生響應(yīng),對(duì)于如此龐大的真空系統(tǒng),其反應(yīng)是相當(dāng)?shù)撵`敏。

檢漏時(shí)噴槍在漏孔處停留的時(shí)間應(yīng)為儀器響應(yīng)時(shí)間的3倍,該時(shí)間再加上氦氣在真空系統(tǒng)中的傳遞時(shí)間,即為兩次噴氦的較小間隔時(shí)間,當(dāng)然真空系統(tǒng)越龐大,該間隔時(shí)間也越長(zhǎng)。筆者根據(jù)實(shí)測(cè)經(jīng)驗(yàn),兩次噴氦的較小間隔時(shí)間控制在30s左右,即如果次噴氦后30s內(nèi)檢漏儀還沒有反應(yīng),則可進(jìn)行第二次噴氦。

清除時(shí)間在理論上與響應(yīng)時(shí)間相同,但由于儀器零件對(duì)氦的吸附和脫附作用的影響,清除時(shí)間一般要更長(zhǎng)些。筆者測(cè)算,在測(cè)試到數(shù)量級(jí)為10-9P a ?m3/s的微漏漏點(diǎn)時(shí),清除時(shí)間約須1分鐘;在測(cè)試到數(shù)量級(jí)為10-8P a ? m3/s的中漏漏點(diǎn)時(shí),清除時(shí)間約須2分鐘;在測(cè)試到數(shù)量級(jí)為10-7Pa?m3/s的大漏漏點(diǎn)時(shí),清除時(shí)間在3分鐘左右。

科儀擁有先進(jìn)的技術(shù),我們都以質(zhì)量為本,信譽(yù)高,我們竭誠(chéng)歡迎廣大的顧客來公司洽談業(yè)務(wù)。如果您對(duì)氦檢漏感興趣,歡迎點(diǎn)擊左右兩側(cè)的在線客服,或撥打咨詢電話。






氦質(zhì)譜檢漏儀的檢漏方式有那些

氦質(zhì)譜檢漏儀的檢漏方式通常有兩種,一種為常規(guī)檢漏,另一種為逆擴(kuò)散檢漏。

逆擴(kuò)散檢漏是把被檢件接在分子泵出氣口一端,漏入的氦氣由分子泵出氣口逆著泵的排氣方向進(jìn)入安裝在泵的進(jìn)氣口端的質(zhì)譜管內(nèi)而被檢測(cè)。這一檢漏方式是基于分子泵對(duì)不同質(zhì)量的氣體具有不同壓縮比(氣體在分子泵出氣口壓強(qiáng)與進(jìn)氣口壓強(qiáng)之比)即利用不同氣體的逆擴(kuò)散程度不同程度而設(shè)計(jì)的。

氦質(zhì)譜檢漏儀逆擴(kuò)散原理

逆擴(kuò)散方式檢漏允許被檢件內(nèi)壓強(qiáng)較高,氦質(zhì)譜檢漏儀可達(dá)1000Pa(一般常規(guī)檢漏儀為0.05Pa以下),適合檢大型容器或有大漏的器件,也適合吸槍檢漏。逆擴(kuò)散方式還具有質(zhì)譜管不易受污染,燈絲壽命長(zhǎng)等優(yōu)點(diǎn)。

本產(chǎn)品信息由科儀創(chuàng)鑫提供,如果您想了解更多您可撥打圖片上的電話進(jìn)行咨詢!







氦質(zhì)譜檢漏儀

(1)新的儀器對(duì)空氣和殘余氣體的讀數(shù)是零,僅對(duì)示蹤氣體有響應(yīng)。(2)新的儀器本身也是一個(gè)抽速較高的真空系統(tǒng)。(3)儀表的指示能夠反映出漏孔的大小, 漏量的大小。這三點(diǎn)要求實(shí)際上構(gòu)成了研制新型檢漏儀器的準(zhǔn)則。在研制過程中, 對(duì)傳統(tǒng)的檢漏方法、光譜儀和皮喇尼規(guī)進(jìn)行了考察。發(fā)現(xiàn)在實(shí)際運(yùn)用中都存在著不少的缺點(diǎn)。當(dāng)時(shí),明尼蘇達(dá)州州立大學(xué)的尼爾博士正在研制一種可以記錄分子量和原子量大小的質(zhì)譜儀。經(jīng)過分析, 雅可比認(rèn)為如果尼爾博士能夠使儀器簡(jiǎn)化, 那么質(zhì)譜儀將是一種好的選擇性檢漏裝置。當(dāng)時(shí)還論證了新型檢漏裝置的示蹤氣體必須滿足三個(gè)要求(1)系統(tǒng)的殘余氣體的質(zhì)潛中沒有它的譜線。即便儀器處于大氣環(huán)境,這種氣體在儀器中也幾乎不存在。(2)能夠在試驗(yàn)狀態(tài)下很容易地把它從系統(tǒng)中抽出, 所用的示蹤氣體不會(huì)污染系統(tǒng)。(3)分子量低、粘度低、購置方便。顯然,氦氣是滿足這三個(gè)要求的理想的氣體。



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