北京科儀創(chuàng)新真空技術(shù)有限公司主營：“真空箱式氦檢漏設(shè)備”,“LNG低溫容器抽真空設(shè)備”

氦質(zhì)譜檢漏儀在消防器材檢漏應(yīng)用二

消防器材鋼瓶檢漏方法

目前國內(nèi)制作鋼瓶的廠家很多采用水檢法，即將消防鋼瓶打上一定的壓力，大約 2 MPa，然后將整個鋼瓶放入水槽中，看有無氣泡冒出，但是使用此方法只能檢到漏孔比較大的情況，根據(jù)計算得出：氣泡直徑為?2.26mm 在每分鐘冒出一個氣泡的情況下漏率約為 1.0 x 10-4 mbar l/s，對于小漏的檢測比較難實現(xiàn)。隨著我國出口量的增加以及客戶對于安全意識的提高，消防鋼瓶的檢漏需要更高的要求，所以現(xiàn)在的廠家都引入氦質(zhì)譜檢漏儀 進行檢漏； 氦質(zhì)譜檢漏儀在鋼瓶生產(chǎn)廠家被廣泛應(yīng)用，正壓模式，其工作原理如下：氦氣充入被檢工件壓力只要 1.2 個大氣壓即可----吸槍對工件找漏點。通常在 正壓 模式下，檢漏儀報警值設(shè)定在 1.5 x 10-5 mbar.l/s，在實際測漏過程中，被檢工件的漏率大于此值就會形成漏點報警，小于此值就認為該鋼瓶密封要求合格。

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氦質(zhì)譜檢漏儀熱管檢漏

熱管

熱管 (Heat Pipe) 是利用熱傳導(dǎo)原理與致冷介質(zhì)的快速熱傳遞性質(zhì)，透過熱管將發(fā)熱物體的熱量迅速傳遞到熱源外，其導(dǎo)熱能力超過任何已知金屬的導(dǎo)熱能力。熱管技術(shù)目前廣泛應(yīng)用于計算機、各類電器等設(shè)備散熱，常見的形狀有圓管狀，板塊狀 (VC 單體) 等。

熱管需要檢漏原因：

熱管內(nèi)部填充特殊液體用來增強熱傳導(dǎo)性能，如果熱管本身存在漏點，首先會影響熱管的導(dǎo)熱性能；其次由于熱管都是安裝在設(shè)備內(nèi)部，如果發(fā)生泄漏，里面封裝的液體就會流出，嚴重污染和影響設(shè)備的正常運轉(zhuǎn)，所以熱管生產(chǎn)企業(yè)，都會采用 氦質(zhì)譜檢漏儀對熱管進行檢漏。

熱管檢漏客戶案例：某電子股份公司，是世界 IT 產(chǎn)業(yè) 500 強之一，分公司及營業(yè)處遍及美國、日本、歐洲、蘇格蘭、新加坡等地，全球員工近 90000人。該企業(yè)是全球較大的電源供應(yīng)器制造商，市場占有率達 25% 以上。

熱管檢漏方法：

該企業(yè)熱管出廠前標準漏率合格線是 E-8 mbarl/s，使用氦質(zhì)譜檢漏儀檢漏時，設(shè)定 E-8 為報警值，當漏率低于該值時產(chǎn)品是合格的，當漏率高于此值，檢漏儀發(fā)出聲光警報，說明產(chǎn)品有漏。

熱管采用檢漏儀的真空檢漏模式，因為產(chǎn)品沒有抽真空的標準接口，上海伯東根據(jù)客戶實際情況定制真空夾具，一頭連接檢漏儀，一頭連接產(chǎn)品，具體做法如下：

1.啟動氦質(zhì)譜檢漏儀，裝上夾具

2.將熱管插入夾具，并用真空封泥封堵

3.按下檢漏儀啟動鍵，開始抽真空

4.在產(chǎn)品周圍噴氦氣，以 E-8 mbarl/s 為合格線

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氦質(zhì)譜檢漏儀光無源器件檢漏

光無源器件是不含光能源的光能器件的總稱。光無源器件在光路中都要消耗能量，插入損耗是其主要性能指標。光無源器件有光纖連接器、光開關(guān)、光衰減器、光纖耦合器、波分復(fù)用器、光調(diào)制器、光濾波器、光隔離器、光環(huán)行器等。它們在光路中分別實現(xiàn)連接、能量衰減、反向隔離、分路或合路、信號調(diào)制、濾波等功能。本文主要介紹氦質(zhì)譜檢漏儀在無源器件中的檢漏應(yīng)用。

光無源器件是不含光能源的光功能器件的總稱。光無源器件在光路中都要消耗能量，插入損耗是其主要性能指標。光無源器件有光纖連接器、光開關(guān)、光衰減器、光纖耦合器、波分復(fù)用器、光調(diào)制器、光濾波器、光隔離器、光環(huán)行器等。它們在光路中分別實現(xiàn)連接、能量衰減、反向隔離、分路或合路、信號調(diào)制、濾波等功能。本文主要介紹氦質(zhì)譜檢漏儀在無源器件中的檢漏應(yīng)用。

無源器件檢漏原因：光無源器件是光纖通信設(shè)備的重要組成部分，也是其它光纖應(yīng)用領(lǐng)域不可缺少的元器件。具有高回波損耗、低插入損耗、高可靠性等特點。光無源器件對密封性的要求極高，如果存在泄漏會影響其使用性能和精度，光通信行業(yè)的漏率標準是小于 5×10-8  mbar.l/s，因此需要進行泄漏檢測。氦質(zhì)譜檢漏法利用氦氣作為示蹤氣體可準確定位，定量漏點，替代傳統(tǒng)泡沫檢漏和壓差檢漏，目前已廣泛應(yīng)用于光無源器件的檢漏。