礦石光譜成分檢測 礦石光譜化驗(yàn)

基本分析樣品

(1)基本分析樣品的采樣

各項(xiàng)探礦工程中按礦體(分礦石類型、品級)、并對可能含礦的巖石、礦化帶及夾石連續(xù)取樣，使所取樣品能控制礦體、礦化帶的頂?shù)装褰缇€。樣品長度一般為1 m～2 m，以不大于礦體可采厚度為宜。

槽探、井探、坑探工程中通常采用刻槽法取樣。一般樣槽斷面規(guī)格：銀礦10cmtimes; 3cm或10cmtimes; 5cm，銀礦化均勻者經(jīng)論證還可以采用5cmtimes;3cm；氧化礦石中品位變化較大者還可采用15 cmtimes;5 cm。穿脈坑道一般在一壁腰線連續(xù)取樣，礦化不均勻時可在兩壁取樣。沿脈坑道在掌子面或頂板取樣，樣品間距視礦化均勻程度而定，一般為5 m～10 m。通過試驗(yàn)也可以選擇其他方法取樣。

巖礦心取樣一般沿其長軸方向劈取一半作為樣品，應(yīng)盡可能使用金剛石分取。對不同回次的巖礦心直徑或采取率相差較大者要分別取樣。

(2)基本樣品分析項(xiàng)目

一般為Ag,其它有用組分達(dá)到工業(yè)要求時，也應(yīng)列入基本分析。

2、光譜全分析

為確定組合分析和化學(xué)全分析項(xiàng)目，在礦體不同空間部位、不同礦石類型(或品級)及某些圍巖、蝕變帶取樣。樣品可從基本分析副樣中抽取或單采取。

3、礦石化學(xué)全分析

為全面了解礦石中各組分含量，在光譜全分析基礎(chǔ)上，按主要礦體、分礦石類型(或品級)采取組合分析副樣或單采取有代表性的樣品。每種礦石類型或品級一般做1個～2個。