二次離子質(zhì)譜對固體材料的表面微區(qū)分析案例

      二次離子質(zhì)譜是一種分析固體材料表面微量成分的檢測技術(shù)，該技術(shù)對元素的檢測限非常額高，可以達到ppm甚至ppb幾倍。除了分析元素，還可以分析同位素、官能團和分子結(jié)構(gòu)?？捎糜谒性谡婵障路€(wěn)定的固體材料的檢測。目前已廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、生物醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域。

      技術(shù)的原理是用離子束來轟擊材料表面，然后用質(zhì)譜法檢測二次離子受離子束轟擊后的質(zhì)量電荷比，一次離子束的能量范圍可以從幾百到數(shù)萬電子伏。當(dāng)轟擊材料表面時，一些離子會反射，其他離子會進入固體內(nèi)部并將能量傳遞給其他原子，當(dāng)固體表面原子獲得的能量大于濺射閾值時，它們將被濺射到外部，原子團或分子將直接飛濺。通過質(zhì)譜儀接收到這些二次離子后，可以獲得樣品組成信息。

      SIMS技術(shù)通常分為靜態(tài)（SSIMS）和動態(tài)（DSIMS）。靜態(tài)SSIMS主要用于表面質(zhì)譜和表面成像。通常只獲得表面單原子層信息，可用于分析有機化合物的分子結(jié)構(gòu)。動態(tài)DSIMS利用高能高密度離子束轟擊材料表面，配合表面掃描和離子濺射獲得樣品的微區(qū)元素和三維元素分布圖，反映樣品中元素或分子結(jié)構(gòu)的分布。

      配備TOF檢測器的TOF-SIMS擁有當(dāng)前表面分析技術(shù)中最高的分辨率。微源檢測可提供德國ION-TOF先進TOF-SIMS儀器檢測為廠家提供完善的SIMS技術(shù)解決方案。下圖是利用SIMS技術(shù)研究聚乙烯材料中添加劑成分和分布情況的案例：質(zhì)譜圖采用靜態(tài)TOF-SIMS技術(shù)研究最表面添加劑的種類，下方則是利用DSIMS研究表面微區(qū)1.5微米深度下的幾種添加劑分布情況。

公司介紹：

       微源檢測，是集研發(fā)分析測試服務(wù)、藥物質(zhì)量研究、基因毒雜質(zhì)研究、元素雜質(zhì)研究、結(jié)構(gòu)確認(rèn)、生物藥分析服務(wù)等一體，面向全球的獨立第三方生物醫(yī)藥研發(fā)測試服務(wù)公司。

由國內(nèi)領(lǐng)先的科學(xué)服務(wù)企業(yè)上海泰坦科技股份有限公司（簡稱：泰坦科技）參股成立，秉承“讓檢測精準(zhǔn)又高效”的價值觀：

l資質(zhì)實驗室 CMA,CNAS，按照ISO-17025和GMP要求建立的實驗室

l建設(shè)有1500+平米的高標(biāo)準(zhǔn)生物醫(yī)藥實驗室

l專業(yè)技術(shù)研發(fā)團隊成員經(jīng)驗豐富，3天出具檢測結(jié)果

l現(xiàn)有精密分析儀器100+臺，均安裝網(wǎng)絡(luò)版審計追蹤軟件

l已服務(wù)100+生物制藥企業(yè)

l現(xiàn)已成功完成2189個項目

l前期溝通、寄送樣品、檢測分析、出具報告全程一對一服務(wù) 

       微源檢測定制的個性化方案，為客戶提供了專業(yè)可靠，高效率、高質(zhì)量、合規(guī)的檢測分析服務(wù)。協(xié)助客戶解決了檢測,分析,測試等各類問題，縮短了工藝驗證或方法建立所用的時間，降低研發(fā)風(fēng)險，縮短研發(fā)周期，推進產(chǎn)品的市場化進程。