北京吉天儀器有限公司主營(yíng)：原子熒光光度計(jì),流動(dòng)注射分析儀

近紅外光譜分析儀器

近紅外光譜儀器從分光系統(tǒng)可分為固定波長(zhǎng)濾光片、光柵色散、快速傅立葉變換、聲光可調(diào)濾光器和陣列檢測(cè)五種類(lèi)型。濾光片型主要作分析儀器，如糧食水分測(cè)定儀。由于濾光片數(shù)量有限，很難分

析復(fù)雜體系的樣品。 光柵掃描式具有較高的信噪比和分辨率。 由于儀器中的可動(dòng)部件（如光柵軸）在連續(xù)高強(qiáng)度的運(yùn)行中可能存在磨損問(wèn)題，從而影響光譜采集的可靠性，不太適合于在線分析。傅立葉變換近紅外光譜儀是具有較高的分辨率和掃描速度，這類(lèi)儀器的弱點(diǎn)同樣是干涉儀中存在移動(dòng)性部件，且需要較嚴(yán)格的工作環(huán)境。聲光可調(diào)濾光器是采用雙折射晶體，通過(guò)改變射頻頻率來(lái)調(diào)節(jié)掃描的波長(zhǎng)，整個(gè)儀器系統(tǒng)無(wú)移動(dòng)部件，掃描速度快。但這類(lèi)儀器的分辨率相對(duì)較低，價(jià)格也較高。隨著陣列檢測(cè)器件生產(chǎn)技術(shù)的日趨成熟，采用固定光路、光柵分光、陣列檢測(cè)器構(gòu)成的NIR儀器，以其性能穩(wěn)定、掃描速度快、分辨率高、信噪比高以及性能價(jià)格比好等特點(diǎn)正越來(lái)越引起人們的重視。在與固定光路相匹配的陣列檢測(cè)器中，常用的有電荷耦合器件（CCD）和二極管陣列（PDA）兩種類(lèi)型，其中 Si 基 CCD 多用于近紅外短波區(qū)域的光譜儀，InGaAs 基 PDA 檢測(cè)器則用于長(zhǎng)波近紅外區(qū)域。北京英賢儀器有限公司與石油化工科學(xué)研究院和美國(guó)微光譜公司合作， 基于陣列檢測(cè)器成功開(kāi)發(fā)出了系列近紅外光譜儀，包括實(shí)驗(yàn)室型和在線型儀器，光譜范圍覆蓋了整個(gè)近紅外波段（700～2500nm），根據(jù)測(cè)量對(duì)象可以選擇多種測(cè)量方式如透射、漫反射等，已在 30 余家煉廠、科研單位和高校得到成功應(yīng)用。

近紅外光譜分析方法的優(yōu)點(diǎn)為

1） 分析速度快。近紅外光譜分析儀一旦經(jīng)過(guò)定標(biāo)后在不到一分鐘的時(shí)間內(nèi)即可完成待測(cè)樣品多個(gè)組分的同步測(cè)量，如果采用二極管列陣型檢測(cè)器結(jié)合聲光調(diào)制型分光器的分析儀，則可在幾秒鐘的時(shí)間內(nèi)給出測(cè)量結(jié)果，完全可以實(shí)現(xiàn)過(guò)程在線定量分析。

2） 對(duì)樣品無(wú)化學(xué)污染。待測(cè)樣品視顆粒度的不同可能需要簡(jiǎn)單的物理制備過(guò)程（如磨碎、混合、干燥等），無(wú)需任何化學(xué)干預(yù)即可完成測(cè)量過(guò)程，被稱為是一種綠色的分析技術(shù)。近紅外光譜分析模型

3） 儀器操作簡(jiǎn)單，對(duì)操作員的素質(zhì)水平要求較低。通過(guò)軟件設(shè)計(jì)可以實(shí)現(xiàn)極為簡(jiǎn)單的操作要求，在整個(gè)測(cè)量過(guò)程中引入的人為誤差較小。

4） 測(cè)量準(zhǔn)確度高。盡管該技術(shù)與傳統(tǒng)理化分析方法相比精度略遜一籌，但是給出的測(cè)量準(zhǔn)確度足夠滿足生產(chǎn)過(guò)程中質(zhì)量監(jiān)控的實(shí)際要求，故而非常實(shí)用。

5） 分析成本低。由于在整個(gè)測(cè)量過(guò)程中無(wú)需任何化學(xué)試劑，儀器定標(biāo)完成后測(cè)量是一項(xiàng)非常簡(jiǎn)單工作，所以幾乎沒(méi)有任何損耗。

近紅外光譜剖析技術(shù)性的發(fā)展趨勢(shì)現(xiàn)況 

現(xiàn)如今的近光譜分析儀一般選用下面六種構(gòu)架： 固定不動(dòng)過(guò)濾器：這類(lèi)儀器根據(jù)固定不動(dòng)總數(shù)的波長(zhǎng)開(kāi)展測(cè)量，每一種波長(zhǎng)相匹配濾光輪上特殊的濾光片。濾光輪在不一樣濾光片中間旋轉(zhuǎn)時(shí)開(kāi)展讀值。 轉(zhuǎn)動(dòng)光柵/三棱鏡：這類(lèi)儀器利用電動(dòng)機(jī)在點(diǎn)射探測(cè)器上挪動(dòng)光柵分散化的輸出（波長(zhǎng)）。 FT-NIR：這類(lèi)儀器利用邁克耳孫干涉儀技術(shù)性的傅立葉互換特性，根據(jù)挪動(dòng)的鏡面玻璃造就可以與某一光譜儀產(chǎn)生數(shù)學(xué)課有關(guān)的干預(yù)樣圖。 線陣探測(cè)器：這類(lèi)儀器利用光柵在原素總數(shù)為256或512之上的一維線形清晰度列陣上分散化波長(zhǎng)。 線形漸變色濾光器：這類(lèi)儀器利用線陣探測(cè)器前的漸變色濾光原素，使特殊波長(zhǎng)可以危害每一個(gè)清晰度原素。 DLP?技術(shù)性：數(shù)據(jù)微鏡元器件（DMD）將光柵分散化的反射到單獨(dú)清晰度探測(cè)器上。