北京吉天儀器有限公司
主營(yíng)產(chǎn)品: 其他電工儀器儀表
聚光科技-吉天等離子ICP光譜儀供貨商-吉天等離子ICP光譜儀報(bào)價(jià)
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ICP光源觀(guān)察方式
雙向觀(guān)測(cè):雙向觀(guān)測(cè)是在水平觀(guān)測(cè)ICP光源的基礎(chǔ),增加一套側(cè)向采光光路,實(shí)現(xiàn)垂直/水平雙向觀(guān)測(cè),即在炬管垂直觀(guān)測(cè)的方向依次放置3塊反射鏡,當(dāng)要使用垂直觀(guān)測(cè)的時(shí)候,就通過(guò)3塊反射鏡把炬管垂直方向上的光反射到原光路中,并通過(guò)旋轉(zhuǎn)原光路的塊反射鏡,使垂直方向來(lái)的光與原水平方向來(lái)的光在整個(gè)光路中重合。該觀(guān)測(cè)方式的切換反射鏡由計(jì)算機(jī)控制,該方式融合了軸向、徑向的特點(diǎn),具有一定的靈活性,增強(qiáng)了測(cè)定復(fù)雜樣品的能力。改觀(guān)測(cè)方式可實(shí)現(xiàn)以下3中方式的測(cè)量:
①全部元素譜線(xiàn)水平測(cè)量。
②全部元素譜線(xiàn)垂直測(cè)量。
③部分元素譜線(xiàn)水平測(cè)量,部分元素譜線(xiàn)垂直測(cè)量。
雙向觀(guān)測(cè)能有效解決水平觀(guān)測(cè)中存在的電子干擾,進(jìn)一步擴(kuò)寬線(xiàn)性范圍。但是該觀(guān)測(cè)方式需要不斷地切換反射鏡,可 能導(dǎo)致儀器的穩(wěn)定性變差。由于徑向觀(guān)測(cè)的需要,炬管側(cè)面必須開(kāi)口,導(dǎo)致炬管的壽命大大降低,同時(shí)也改變了炬焰的形狀。炬管開(kāi)口處必須嚴(yán)格與光路對(duì)準(zhǔn),要不然炬管壁容易積累鹽,會(huì)使檢測(cè)結(jié)果嚴(yán)重錯(cuò)誤;同時(shí)如果在開(kāi)口出現(xiàn)積鹽同樣也會(huì)導(dǎo)致儀器檢測(cè)結(jié)構(gòu)存在嚴(yán)重的錯(cuò)誤,必須注意清洗。而且增加了曝光次數(shù),降低了分析速度,增加了分析消耗。
ICP光譜儀的優(yōu)點(diǎn)
1. 檢出限低。 一般可達(dá)0.1~1ug·g-1,值可達(dá)10-8~10-9g。用電感耦合等離子體(icp)新光源,檢出限可低至 數(shù)量級(jí)。
2. 用icp光源時(shí),準(zhǔn)確度高,標(biāo)準(zhǔn)曲線(xiàn)的線(xiàn)性范圍寬,可達(dá)4~6個(gè)數(shù)量級(jí)。可同時(shí)測(cè)定高、中、低含量的不同元素。因此icp-aes已廣泛應(yīng)用于各個(gè)領(lǐng)域之中。
3. 樣品消耗少,適于整批樣品的多組分測(cè)定,尤其是定性分析更顯示出獨(dú)特的優(yōu)勢(shì)。
ICP光譜儀光學(xué)系統(tǒng)的知識(shí)
1.分辯率
光譜儀的分辯率決定了儀器分辯復(fù)雜譜線(xiàn)的能力。高分辨率減少了建立分析方法所需的時(shí)間,有較好的檢出限和較高的準(zhǔn)確度。ARCOS 的實(shí)際分辯率為:Fe(310.030)<0.007nm。采用3600刻線(xiàn)/mm光柵的光譜范圍為190nm—520nm,可以適用于大部分的光譜分析元素。
2.光柵直接驅(qū)動(dòng)
ARCOS型光譜儀采用直接驅(qū)動(dòng)光柵的機(jī)械傳動(dòng)方式,計(jì)算機(jī)控制下的自動(dòng)波長(zhǎng)參比保證波長(zhǎng)的機(jī)械準(zhǔn)確度總是優(yōu)于0.003nm。由于的重現(xiàn)性,掃描速度很快,全譜范圍掃描小于8秒.光柵轉(zhuǎn)動(dòng)的高速度使得儀器在1分鐘內(nèi)可以分析15個(gè)元素,這意味著節(jié)省氣和樣品,分析速度快, 穩(wěn)定性較高。