北京吉天儀器有限公司主營：原子熒光光度計,流動注射分析儀

ICP光譜儀光學系統(tǒng)的知識

1.分辯率

光譜儀的分辯率決定了儀器分辯復雜譜線的能力。高分辨率減少了建立分析方法所需的時間，有較好的檢出限和較高的準確度。ARCOS 的實際分辯率為：Fe(310.030)<0.007nm。采用3600刻線/mm光柵的光譜范圍為190nm—520nm，可以適用于大部分的光譜分析元素。

2.光柵直接驅(qū)動

ARCOS型光譜儀采用直接驅(qū)動光柵的機械傳動方式，計算機控制下的自動波長參比保證波長的機械準確度總是優(yōu)于0.003nm。由于的重現(xiàn)性,掃描速度很快,全譜范圍掃描小于8秒.光柵轉(zhuǎn)動的高速度使得儀器在1分鐘內(nèi)可以分析15個元素,這意味著節(jié)省氣和樣品,分析速度快, 穩(wěn)定性較高。

ICP光譜儀的校正

光學系統(tǒng)校正

在PROFILE儀器中，操作軟件自動控制儀器每30分鐘快速校正、每2小時完全校正光學系統(tǒng)。如果實驗室環(huán)境溫度變化較大，不能保證工作條件，可能造成測量結(jié)果數(shù)據(jù)漂移。

光學系統(tǒng)校正使用燈，選擇Hg8線（波長253.652nm），儀器內(nèi)部裝有燈，只要按照操作規(guī)程操作即可。

等離子體位置校正

等離子體位置校正的目的是將光源對準光學系統(tǒng)。通常在重新裝配進樣系統(tǒng)后，點燃等離子體，用Mn溶液（10ug/mL）校正。

在等離子體位置校正過程中，值得注意的是：確保選中Mn 257.610波長、Mn溶液能夠正常進入并形成氣溶膠進入等離子體。如果上述條件沒有滿足，可能造成校正失敗。

ICP光譜儀的校正

ICP光譜儀校正的目的是消除環(huán)境溫度造成的光學系統(tǒng)漂移與機械震動造成的機械位移。通常，在儀器安裝調(diào)試過程中首先要進行光學系統(tǒng)校正；在儀器正常使用過程中根據(jù)環(huán)境溫度的條件適當進行光學系統(tǒng)校正。 在PRODIGY儀器中，由于儀器本身有恒溫系統(tǒng)，操作人員只要控制儀器達到恒溫條件，即可正常進行分析測量，無須頻繁校正光學系統(tǒng)。

波長校正

在使用任何一個元素、任何一個波長進行分析測量之前，都要做波長校正。波長校正的目的是：對事先存儲在譜線庫中的理論波長坐標位置進行修正、保證實際使用的波長坐標位置準確。

儀器安裝調(diào)試以后，波長校正不需要經(jīng)常做。如果實驗室溫度變化較大，應適當進行波長校正。