Schneider ZBSP2塑料蓋，保護(hù)蓋

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--------深圳市扎克貿(mào)易有限公司-------

--------專注歐美進(jìn)口工業(yè)備件---------

光學(xué)行業(yè)的測量任務(wù)對傳感器來說是一個(gè)巨大的挑戰(zhàn)。閃亮和反光的目標(biāo)通常呈現(xiàn)復(fù)雜的形狀，必須以高分辨率和速度進(jìn)行測量。

光刻機(jī)中的納米定位

為了照亮晶片上的各個(gè)組件，光刻設(shè)備將晶片移動到相應(yīng)的位置。電容式位移傳感器測量行進(jìn)路徑的位置，以便...

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測試顯微鏡和智能手機(jī)物鏡的質(zhì)量

 測試顯微鏡和智能手機(jī)物鏡的質(zhì)量

測試顯微鏡和智能手機(jī)物鏡的質(zhì)量

測試鏡頭的成像質(zhì)量是基于光軸和現(xiàn)場的波前測量。此外，自動測量程序提供有關(guān)焦距、色度...

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測量鏡片的中心厚度

為了滿足生產(chǎn)公差，使用共焦色度傳感器測量光學(xué)鏡片（例如眼鏡鏡片或物鏡）的中心厚度。測量是從一個(gè)...

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隱形眼鏡的測量

隱形眼鏡制造商需要對透明、柔韌的聚合物樣品進(jìn)行各種材料測試。在測試期間，材料樣品必須浸沒在鹽水溶液中以進(jìn)行水合作用。這 ...

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測量人工晶狀體的屈光數(shù)據(jù)

在測量人工晶狀體的屈光力分布、成像質(zhì)量和晶狀體直徑時(shí)，使用基于波前技術(shù)的測量系統(tǒng)。人體工學(xué)鏡片...

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測量隱形眼鏡的屈光數(shù)據(jù)

在測量軟、硬隱形眼鏡的屈光力分布、成像質(zhì)量和鏡片直徑時(shí)，使用基于波前技術(shù)的測量系統(tǒng)。人類工程學(xué)的 ...

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調(diào)整激光系統(tǒng)

除了光束參數(shù)測量，Shack-Hartmann 波前傳感器還用于調(diào)整激光系統(tǒng)或光纖系統(tǒng)。這里的優(yōu)點(diǎn)是它們對振動不敏感，適用性......

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鏡子表面檢測

對于反射鏡等光學(xué)元件，需要高度的表面均勻性。反射控制傳感器用于測試這些反射面的反射面。他們檢測并...

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測量隱形眼鏡和模具的表面形狀

為了控制和優(yōu)化過程，隱形眼鏡的正面和背面在生產(chǎn)過程中都使用入射光進(jìn)行測量。模具和工具被測量以及計(jì)算......

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測量鏡片的曲率

為了滿足生產(chǎn)公差，光學(xué)鏡片（例如眼鏡鏡片或物鏡）的輪廓使用了共焦色度傳感器?；诰嚯x值，關(guān)于表面的陳述......

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基于多功能光學(xué)測試的質(zhì)量保證

光學(xué)系統(tǒng)用于各種行業(yè)和應(yīng)用，包括從微米級尺寸的微型光學(xué)器件到直徑為...

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測試和調(diào)整雙筒望遠(yuǎn)鏡/觀察鏡和物鏡

 測試和調(diào)整雙筒望遠(yuǎn)鏡/觀察鏡和物鏡

測試和調(diào)整雙筒望遠(yuǎn)鏡/觀察鏡和物鏡

透射波前的精確測量提供了對光學(xué)系統(tǒng)成像質(zhì)量的定性評估，同時(shí)實(shí)現(xiàn)了系統(tǒng)的在線調(diào)整。SHSInspect RL 測量...

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測量平面光學(xué)元件的光學(xué)質(zhì)量

 測量平面光學(xué)元件的光學(xué)質(zhì)量

測量平面光學(xué)元件的光學(xué)質(zhì)量

通常對濾光片和窗口的質(zhì)量有很高的要求。Optocraft 為測量透射光和表面缺陷中的波前誤差提供交鑰匙解決方案。

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相機(jī)自動對焦測量

共焦傳感器測量自動對焦鏡頭之間的距離，為相機(jī)提供盡可能高的圖像質(zhì)量。

Schneider ZBSP2塑料蓋，保護(hù)蓋

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