耦合測(cè)試卡，也稱測(cè)試白卡，耦合卡，GSM模塊：

材質(zhì)：PVC純?cè)?接觸式芯片

工作溫度：-20---70℃

尺寸：85.5*54*0.76mm（超薄，好插拔，不易磨損）

擦寫壽命：10萬次

存儲(chǔ)容量：16*1024bits

插拔次數(shù)：1500-2000次。

產(chǎn)品包裝：中性包裝（白盒）

應(yīng)用范圍：手機(jī)、戶外相機(jī)、WU人機(jī)、基站通信測(cè)試等，應(yīng)用于通訊工業(yè)生產(chǎn)、測(cè)試過程中的使用。配合綜合測(cè)試儀（安捷倫8960、安立、CMU200、CMW500、MT8820C等）對(duì)手機(jī)進(jìn)行無干擾綜合測(cè)試；手機(jī)在生產(chǎn)中進(jìn)行相關(guān)測(cè)試，需要屏蔽外界不良信號(hào)電波干憂，測(cè)試卡可以對(duì)外界信號(hào)實(shí)現(xiàn)信號(hào)至儀器到手機(jī)的路徑，讓測(cè)試環(huán)境更加簡(jiǎn)潔，從而達(dá)到測(cè)試的理想效果。

 LTE 4G測(cè)試空白卡是一款可擦寫、可沖切為Min-SIM、Micro-SIM、Nano-SIM尺寸的空白測(cè)試卡，應(yīng)用于手機(jī)測(cè)試與綜合儀器測(cè)試，只要用戶有簽權(quán)數(shù)據(jù)即可對(duì)LTE 4G測(cè)試空白卡進(jìn)行讀、寫測(cè)試操作！

LTE 4G測(cè)試空白卡支持4G網(wǎng)絡(luò)標(biāo)準(zhǔn)的USIM卡，可用于核心網(wǎng)基站測(cè)試，統(tǒng)稱為4G核心網(wǎng)基站測(cè)試卡|4G測(cè)試白卡。