供應(yīng)GSM模塊4G-LTE耦合測(cè)試卡SIM測(cè)試白卡適用各綜測(cè)儀型號(hào)
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聯(lián)系人 孫小姐

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商品介紹
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聯(lián)系方式
產(chǎn)品特性 功能測(cè)試
品牌 深圳華海
材質(zhì) PCV純?cè)?接觸芯片
耐溫 -20---70℃
擦寫壽命 10萬次
存儲(chǔ)容量 16*1024bits
尺寸 大卡2FF、中卡3FF、小卡4FF
商品介紹

耦合測(cè)試卡,也稱測(cè)試白卡,耦合卡,GSM模塊:

材質(zhì):PVC純?cè)?接觸式芯片

工作溫度:-20---70℃

尺寸:85.5*54*0.76mm(超薄,好插拔,不易磨損)

擦寫壽命:10萬次

存儲(chǔ)容量:16*1024bits

插拔次數(shù):1500-2000次。

產(chǎn)品包裝:中性包裝(白盒)

應(yīng)用范圍:手機(jī)、戶外相機(jī)、WU人機(jī)、基站通信測(cè)試等,應(yīng)用于通訊工業(yè)生產(chǎn)、測(cè)試過程中的使用。配合綜合測(cè)試儀(安捷倫8960、安立、CMU200、CMW500、MT8820C等)對(duì)手機(jī)進(jìn)行無干擾綜合測(cè)試;手機(jī)在生產(chǎn)中進(jìn)行相關(guān)測(cè)試,需要屏蔽外界不良信號(hào)電波干憂,測(cè)試卡可以對(duì)外界信號(hào)實(shí)現(xiàn)信號(hào)至儀器到手機(jī)的路徑,讓測(cè)試環(huán)境更加簡(jiǎn)潔,從而達(dá)到測(cè)試的理想效果。

 LTE 4G測(cè)試空白卡是一款可擦寫、可沖切為Min-SIM、Micro-SIM、Nano-SIM尺寸的空白測(cè)試卡,應(yīng)用于手機(jī)測(cè)試與綜合儀器測(cè)試,只要用戶有簽權(quán)數(shù)據(jù)即可對(duì)LTE 4G測(cè)試空白卡進(jìn)行讀、寫測(cè)試操作!

 

LTE 4G測(cè)試空白卡支持4G網(wǎng)絡(luò)標(biāo)準(zhǔn)的USIM卡,可用于核心網(wǎng)基站測(cè)試,統(tǒng)稱為4G核心網(wǎng)基站測(cè)試卡|4G測(cè)試白卡。




 





聯(lián)系方式
公司名稱 深圳市華海智能卡有限公司
聯(lián)系賣家 孫小姐 (QQ:2853363698)
電話 㜄㜋㜈㜈-㜇㜋㜋㜌㜋㜋㜌㜌-㜊㜄㜉㜆
手機(jī) 㜉㜊㜃㜅㜊㜋㜈㜈㜉㜄㜉
傳真 㜄㜋㜈㜈-㜇㜋㜋㜌㜋㜋㜌㜌-㜊㜄㜉㜄
地址 廣東省深圳市