高溫四探針測試儀

        HCTZ-800高溫四探針測試儀器采用四探針雙電測量方法，適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料在高溫、真空及氣氛條件下測量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能。采用AD芯片控制，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便，配備10英寸觸摸屏，軟件可保存和打印數(shù)據(jù)，自動生成報表；本儀器可顯示電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電 流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度、電導(dǎo)率，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項目要求選購。雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。利用電流探針、電壓探針的變換，進行兩次電測量，對數(shù)據(jù)進行雙電測分析，自動樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機械游移等因素對測量結(jié)果的影響，它與單電測直線或方形四探針相比，大大提高度,也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測以及新材料電學(xué)性能研究等用途。

        HCTZ-800系列采用電子護系統(tǒng)，設(shè)備的性；選用熱電偶保定溫度的采集有效值、采用SPWM 電子升壓技術(shù)，電壓輸出穩(wěn)定性好。配備高精度電壓、電流傳感器以保證試驗數(shù)據(jù)的有效性。

        HCTZ-800系統(tǒng)搭配Labview系統(tǒng)開發(fā)的hcpro軟件，具備彈性的自定義功能，可進行電壓、電 流、溫度、時間等設(shè)置，符合導(dǎo)體、半導(dǎo)體材料與其它新材料測試多樣化的需求。高精度的輸出與測量規(guī)格，保障檢測結(jié)果的品質(zhì)，適用于新材料數(shù)據(jù)的檢測。例如：多晶硅材料、石墨烯材料、導(dǎo)電功能薄膜材料、半導(dǎo)體材料，也可做為科研院所新材料的耐電弧性材料的性能測試。針探針測試儀做了多項設(shè)計，測試過程中有過電壓、過電流、超溫等異常情況以保證測試過程的；資料保存機制：當(dāng)遇到電腦異常瞬時斷電可將資料保存于控制器中，不丟失試驗數(shù)所新開啟動后可恢復(fù)原有試驗數(shù)據(jù)。

應(yīng)用領(lǐng)域：

• 多晶硅材料
• 石墨烯材料
• 石墨功能材料
• 半導(dǎo)體材料
• 導(dǎo)電功能薄膜材料
• 鍺類功能材料
• 導(dǎo)電玻璃（ito）材料
• 柔性透明導(dǎo)電薄膜
• 其它導(dǎo)電材料等

系統(tǒng)功能：

• 電壓、電流、溫度實時顯示
• 自動升壓功能
• 循環(huán)自動測試
• 升溫速度可控
• 自動試驗報表
• 過壓、過流、超溫報警
• 軟件自動升級
• 試驗電壓、電流可調(diào)
• 電極方便更換
• 在線設(shè)備

系統(tǒng)特點：

• 多功能真空加熱爐，一體爐膛設(shè)計、可實現(xiàn)、高溫、真空、氣氛環(huán)境下進行測試
• 采用鉑材料作為導(dǎo)線、以減少信號衰減、提高測試精度，
•  可以測量半導(dǎo)體薄膜材、薄片材料的方塊電阻、電阻率；
• 可實現(xiàn)常溫、變溫、恒溫條件的I-V、R-T、R-t等測量功能;
• 溫度傳感器、PID自動溫度控制，使測量溫度更準(zhǔn)確；
• 儀器可自動計算試樣的電阻率pv;
• 10寸觸摸屏設(shè)計，一體化設(shè)計機械結(jié)構(gòu)，穩(wěn)定、可靠；
• 程控電子升壓技術(shù)，紋波低、
• 99氧化鋁陶瓷絕緣、碳化鎢探針；
• huace pro 強大的控制分析軟件。