

深圳市泰立儀器儀表有限公司
主營(yíng)產(chǎn)品: 金屬材料檢測(cè), 復(fù)合材料檢測(cè), 磁力測(cè)量, 電導(dǎo)率測(cè)量, 相控陣探傷, 汽車點(diǎn)焊探傷
日本日立HITACHI-孔壁銅厚度測(cè)量?jī)xCMI760-同時(shí)微電阻和渦流測(cè)試
價(jià)格
訂貨量(臺(tái))
¥68800.00
≥1
店鋪主推品 熱銷潛力款
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深圳市泰立儀器儀表有限公司
店齡6年
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牟小姐 銷售經(jīng)理
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經(jīng)營(yíng)模式
經(jīng)營(yíng)批發(fā)
所在地區(qū)
廣東省深圳市
主營(yíng)產(chǎn)品
金屬材料檢測(cè), 復(fù)合材料檢測(cè), 磁力測(cè)量, 電導(dǎo)率測(cè)量, 相控陣探傷, 汽車點(diǎn)焊探傷
???日本HITACHI日立 銅箔 履銅板 表面銅 銅線條和孔壁銅厚度測(cè)量?jī)x CMI760
CMI760 Series 通用雙重技術(shù)
銅箔,履銅板,表面銅,銅線條和孔壁銅厚度,使用一臺(tái)設(shè)備完成全部測(cè)量要求。
我們的 CMl760 標(biāo)配 SRP-4 探頭和一個(gè)用于解釋測(cè)試數(shù)據(jù)的高級(jí)統(tǒng)計(jì)包。
該儀器具有高度可擴(kuò)展性,能夠同時(shí)微電阻和渦流測(cè)試,用于準(zhǔn)確和銅的精確測(cè)量。
可選配件可用測(cè)量通孔銅厚度
SRP-4 探針
CMI760 包括一個(gè)系留 SRP-4 探頭,帶有用戶可更換的提示,以增加便利性和更高的成本有效的。該探頭由四個(gè)固定在一個(gè)專利設(shè)計(jì),經(jīng)久耐用,不易破損和磨損。透明外殼便于將探頭放置在小痕跡上。系繩電纜非常適合現(xiàn)場(chǎng)應(yīng)用以及其占地面積小,方便易用。
可選的 ETP 探頭
使用我們的 ETP 探針,CMI760 以渦流運(yùn)行用于通孔測(cè)量。該探頭產(chǎn)生準(zhǔn)確的讀數(shù)與電路板的多層無關(guān),同等工作在雙面和多層板上,蝕刻前后,即使使用錫和錫/鉛抗蝕劑。它還提供溫度補(bǔ)償功能,用于立即測(cè)量電路板從電鍍槽中取出后。
主要特點(diǎn):
|雙技術(shù)——渦流和微電阻。
|表面和通孔探頭。
|活動(dòng)統(tǒng)計(jì)顯示。
|可選腳踏開關(guān)。
儀表規(guī)格
|尺寸:英寸:11 1/2(寬)x 10 1/2(深)x 5 1/2(高)
厘米:29.21(寬)x 26.67(深)x 13.97(高)。
|重量:6 磅。 (2.7 公斤)。
|單位:從密耳、微米、微米、毫米、英寸、或 % 作為顯示單位。
|顯示:大 LCD 480 (H) x 320 (V) 像素,背光,廣角視圖。
|統(tǒng)計(jì)顯示:讀數(shù)、標(biāo)準(zhǔn)偏差、平均值、高/低。
|圖表:直方圖、趨勢(shì)圖、x-Bar 和 r-圖。
SRP-4 探針:
|準(zhǔn)確度:±1% (±0.1 μm) 參考參考標(biāo)準(zhǔn)。
|精度:化學(xué)鍍銅:典型值為 0.2%。電鍍銅:典型值為 0.3%。
|分辨率:mil:0.01 at > 1,0.001 at < 1。μm:0.1 at > 10, 0.01 at < 10, 0.001 at <1。
ETP 探頭規(guī)格:
|精度:±0.01 mil (0.25 μm) < 1 mil (25 μm)。
|精度:1.0% 在 1.0% 典型值。
|分辨率:0.01 密耳(0.25 微米)。
|渦流:符合 ASTM E376 方法
厚度范圍:
| ???????0.08-4.0 密耳(1-102 微米)。
| *小孔徑:35 密耳(899 微米)。
PCB對(duì)比圖
我們?yōu)?nbsp;PCB 行業(yè)內(nèi)的 PCB 量規(guī)提供多種選擇,為您提供可滿足您的應(yīng)用需求的*佳和*具成本效益的解決方案。請(qǐng)參考下面的比較圖表或獲取我們的專家建議。
測(cè)試箔、層壓板、表面、痕跡和通孔帶單個(gè)設(shè)備的銅CMl760 接受多種探頭類型以滿足幾乎任何PCB應(yīng)用,包括表面覆銅和通孔應(yīng)用程序。

我們的 CMl760 標(biāo)配 SRP-4 探頭和一個(gè)用于解釋測(cè)試數(shù)據(jù)的高級(jí)統(tǒng)計(jì)包。
該儀器具有高度可擴(kuò)展性,能夠同時(shí)微電阻和渦流測(cè)試,用于準(zhǔn)確和銅的精*測(cè)量。
可選配件可用測(cè)量通孔銅厚度。
SRP-4 探針
CMI760 包括一個(gè)系留 SRP-4 探頭,帶有用戶可更換的提示,以增加便利性和更高的成本有效的。該探頭由四個(gè)固定在一個(gè)專利設(shè)計(jì),經(jīng)久耐用,不易破損和磨損。透明外殼便于將探頭放置在小痕跡上。系繩電纜非常適合現(xiàn)場(chǎng)應(yīng)用以及其占地面積小,方便易用。
可選的 ETP 探頭
使用我們的 ETP 探針,CMI760 以渦流運(yùn)行用于通孔測(cè)量。該探頭產(chǎn)生準(zhǔn)確的讀數(shù)與電路板的多層無關(guān),同等工作在雙面和多層板上,蝕刻前后,即使使用錫和錫/鉛抗蝕劑。它還提供溫度補(bǔ)償功能,用于立即測(cè)量電路板從電鍍槽中取出后。
主要特點(diǎn):
|雙技術(shù)——渦流和微電阻。
|表面和通孔探頭。
|活動(dòng)統(tǒng)計(jì)顯示。
|可選腳踏開關(guān)。
儀表規(guī)格
|尺寸:英寸:11 1/2(寬)x 10 1/2(深)x 5 1/2(高)
厘米:29.21(寬)x 26.67(深)x 13.97(高)。
|重量:6 磅。 (2.7 公斤)。
|單位:從密耳、微米、微米、毫米、英寸、或 % 作為顯示單位。
|顯示:大 LCD 480 (H) x 320 (V) 像素,背光,廣角視圖。
|統(tǒng)計(jì)顯示:讀數(shù)、標(biāo)準(zhǔn)偏差、平均值、高/低。
|圖表:直方圖、趨勢(shì)圖、x-Bar 和 r-圖。
SRP-4 探針:
|準(zhǔn)確度:±1% (±0.1 μm) 參考參考標(biāo)準(zhǔn)。
|精度:化學(xué)鍍銅:典型值為 0.2%。電鍍銅:典型值為 0.3%。
|分辨率:mil:0.01 at > 1,0.001 at < 1。μm:0.1 at > 10, 0.01 at < 10, 0.001 at <1。
ETP 探頭規(guī)格:
|精度:±0.01 mil (0.25 μm) < 1 mil (25 μm)。
|精度:1.0% 在 1.0% 典型值。
|分辨率:0.01 密耳(0.25 微米)。
|渦流:符合 ASTM E376 方法
厚度范圍:
| ???????0.08-4.0 密耳(1-102 微米)。
| 最小孔徑:35 密耳(899 微米)。
PCB對(duì)比圖
我們?yōu)?nbsp;PCB 行業(yè)內(nèi)的 PCB 量規(guī)提供多種選擇,為您提供可滿足您的應(yīng)用需求的最佳和最具成本效益的解決方案。請(qǐng)參考下面的比較圖表或獲取我們的專家建議。
測(cè)試箔、層壓板、表面、痕跡和通孔帶單個(gè)設(shè)備的銅CMl760 接受多種探頭類型以滿足幾乎任何PCB應(yīng)用,包括表面覆銅和通孔應(yīng)用程序。
