射頻（RF）探針在射頻產(chǎn)品生命周期中幾乎每一個階段都起著重要作用：從技術(shù)開發(fā)，模型參數(shù)提取，設(shè)計驗證及調(diào)試一直到小規(guī)模生產(chǎn)測試和終的生產(chǎn)測試。通過使用射頻探針，人們便有可能在晶片層次上測量射頻組件的真正特性。這可以將研究和開發(fā)時間縮短并且大大降低開發(fā)新產(chǎn)品的成本。
村田探針主要與帶開關(guān)的高頻同軸連接器和高頻同軸連接器相匹配來測試使用。不同型號的高頻同軸連接器對應(yīng)的村田探針型號也不相同，不同的排列方式也有不同體積的探針選擇。

村田校準適配器用于探針的校準。適配器一側(cè)帶有SMA接頭，另一側(cè)匹配村田連接器形狀，可以連接網(wǎng)絡(luò)分析儀和相應(yīng)探針進行校準。常用型號有MM126312,MM126712等。

奧納科技銷售射頻探針，主要是日本muRata村田探針。
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村田無電纜探針主要用于實驗室評估，測量電纜能夠與村田探針相連，配合完成后，探針可憑借與連接器接觸點上的夾爪自行站立，配合完成后對探針施加的任何壓力都可能導(dǎo)致探針脫落，連接受損或電級剝離。需要細心使用測試。這類探針一般采用SMA接口進行轉(zhuǎn)接。
其他一些相關(guān)的概念
Probe pitch：指的是針尖(Probe Tips)之間的間距，一般在50-1000um之間不等。對于毫米波頻率的應(yīng)用，針尖間距一般都比較小。
Probe skate :當(dāng)你在Z軸方向往下“按壓”探針時，當(dāng)探針接觸到DUT，它將在ZY平面彎曲移動。通常，這也是我們判斷針是否扎上的一個現(xiàn)象。
De-embeding :去嵌是在探針出現(xiàn)之前就有的技術(shù)，之前經(jīng)常用在一些標(biāo)準的分立的夾具測試中。