北京東方圓通科技發(fā)展有限公司主營：活度計,輻射檢測儀,個人劑量儀,同位素識別儀

熱釋光劑量片概述

1、重復性：LiF:Mg,Cu,P探測器的重復性能隨使用次數(shù)的增加趨于更加穩(wěn)定，一般均在上百次以上；

2、線性：LiF:Mg,Cu,P探測器線性范圍為10-7～30Gy；

3、長期穩(wěn)定性：在環(huán)境溫度低于40℃的環(huán)境下，累積劑量信息的減退在3-6個月內(nèi)可以忽賂不計，若環(huán)境溫度≥50℃時，則其劑量信息的減退約為（3-5）％/月。

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使用熱釋光劑量片時有什么需要注意的？

測  試：使用在相應的熱釋光劑量儀器，開機30分鐘后調(diào)準光源靈敏度，使用M2程序（即：升溫速率為15℃/S，恒溫135℃/8S，第二恒溫240℃/12S），空測3次以上后進行測量。

注意事項：禁止用手直接接觸摸探測器，被灰塵污染的探測器要用酒精清洗，酒精揮發(fā)后晾干再使用，放通風干燥處，避免光線照射，每批次探測器使用后不能和其它批次探測器混合使用。污染嚴重和退火不正確的探測器做報廢處理。

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熱釋光探測器的依據(jù)標準

熱釋光探測器的基本依據(jù)是某些材料的晶體受輻射照射后具有能量累積儲存作用。當加熱到一定溫度時又以發(fā)光的形式釋放能量，而且與受照射劑量成正比關系。

當磷光體（晶體）受到電離輻照時，射線與晶體相互作用，產(chǎn)生電離和激發(fā)，使晶體價帶中的電子獲得足夠的能量游離出來，上升到導帶，在價帶中剩下空穴。被電離激發(fā)的電子空穴在亞穩(wěn)態(tài)能級分別被晶體中的缺陷所俘獲（激發(fā)），這些缺陷稱為“陷阱”（俘獲電子的缺陷）或“中心”（俘獲空穴的缺陷），統(tǒng)稱為“發(fā)光中心”。處于亞穩(wěn)態(tài)能級上的電子和空穴在無外源激發(fā)的環(huán)境下，可以長時間滯留在缺陷中。隨著時間的積累，輻射劑量增加，被缺陷俘獲的受電離激發(fā)的電子和空穴數(shù)量增加，所以在線性劑量范圍內(nèi)磷光體熱釋光的強度與所接受的輻射劑量成正比。

當加熱磷光體時，電子和空穴從發(fā)光中心中逸出，電子和空穴快速復合，或游弋經(jīng)導帶后與禁帶中的空穴復合。在上述幾種復合過程中，都以可見光或紫外光的形式釋放能量，這種現(xiàn)象稱為熱釋光。

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