北京魯科數(shù)據(jù)科技有限公司主營：高速數(shù)據(jù)采集

高速數(shù)據(jù)采集卡形態(tài)    

目前業(yè)內(nèi)板卡形態(tài)的高速數(shù)據(jù)采集卡，較高的采樣頻率，有5GS/s、8GGS/s、10GS/s或32GS/s等。高速數(shù)據(jù)采集卡總線接口形式一般有：PCI Express、compactPCI、PXI、PXIExpress、VPX、USB等。選擇高速數(shù)據(jù)采集卡時一般會從以下指標進行評估：采樣率、精度、通道、總線接口、帶寬、輸入量程、耦合方式、FPGA是否資源開放等。

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高速數(shù)據(jù)采集卡的比較

高速數(shù)據(jù)采集卡種類繁多，功能相差較大，有高采樣率和高分辨率的，也有高采樣率低分辨率，也有低采樣率高分辨率。除此之外，還有單通道和多通道采樣之分，以及寬帶之間的差異。

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采集卡的抗干擾問題

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高速數(shù)據(jù)采集卡可能引進噪音，主要包括來自周圍電子器件的隨機干擾、與激光器發(fā)射相關(guān)的電磁干擾和本底基線偏移。本底基線指激光雷達系統(tǒng)的暗背景測量基線，理想情形它是一條水平直線。可是在實際系統(tǒng)中經(jīng)常觀察到起點偏移，我們稱本底基線偏移。這種偏移很小，但是它不穩(wěn)定，它與真實的信號重疊在一起成為測量誤差。為了能探測到污染分子的存在，必須很大的提高系統(tǒng)靈敏度，通常要把激光測量重復(fù)幾千次甚至幾萬次以提高信噪比。同時必須盡量的減小各種干擾，包括這種基線偏移。

實驗證明，減小外觸發(fā)信號可以減小本底基線偏移；說明基線偏移的一個重要來源是外觸發(fā)電壓。其產(chǎn)生的原因可能是板卡設(shè)計上的缺陷，外觸發(fā)信號的一部分經(jīng)過分布電容耦合到了信號輸入端。基線偏移的另一個重要來源是激光高壓放電脈沖干擾，它很不穩(wěn)定，與接線情況，地線好壞，板卡設(shè)計，溫度濕度等都有關(guān)系。