北京華測試驗(yàn)儀器有限公司
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主營產(chǎn)品: 沖擊電壓試驗(yàn)儀, 耐電弧測試儀, 數(shù)字電荷儀, 表面體積電阻率測試儀, 納米測試儀, 海綿壓陷硬度測試儀, 納米犬分析測試儀, 多功能精密電池測試分, 高壓漏電起痕試驗(yàn)機(jī)
華測-HuaceFE-2000高溫鐵電測試儀
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?高溫鐵電測試儀
一、高溫鐵電測試儀儀器簡介:
HuaceFE-2000高溫鐵電測試儀用于鐵電體的鐵電性能測量、可用于鐵電體的科學(xué)研究及近代物理實(shí)驗(yàn)中的固體物理實(shí)驗(yàn)以及工業(yè)化生產(chǎn)鐵電存儲(chǔ)器的鐵電性能檢測中。本測試系統(tǒng)主要包括可編程信號源、微電流放大器、積分器、放大倍數(shù)可編程放大器、模/數(shù)轉(zhuǎn)換器數(shù)/模轉(zhuǎn)換器、微機(jī)接口部分、微機(jī)和應(yīng)用軟件等部分組成。
HuaceFE-2000鐵電材料參數(shù)測試儀主要由正弦波、三角波、間歇三角波、梯形波發(fā)生器及正、負(fù)矩形脈沖和雙極性雙脈沖發(fā)生器外加鐵電材料電滯回線、I-V特性及開關(guān)特性測量電路構(gòu)成。適用于鐵電薄膜、鐵電體材料的電性能測量,可測量鐵電薄膜電滯回線、IーV特性及開關(guān)特性,可地測出具有非對稱電滯回線鐵電薄膜的Pr值???/span>測鐵電體材料的電滯回線及IV特性。同時(shí)也可作為ー臺(tái)通用信號發(fā)生器、高壓信號發(fā)生器使用。
二、高溫鐵電測試儀測試系統(tǒng):
本測試系統(tǒng)采用虛地模式測量電路,與傳統(tǒng)的 Sawyer- Tower模式相比,此電路取消了外接電容,可減小寄生元件的影響。此電路的測試精度僅取決于積分器積分電容的jing度。減少了對測試的影響環(huán)節(jié),比較容易定標(biāo)和校準(zhǔn),并且能實(shí)現(xiàn)較高的測量準(zhǔn)確度。它不僅能畫出鐵電薄膜的電滯回線,還可以定量得到鐵電薄膜材料的飽和極化Ps、剩余極化Pr、矯頑場Ec、漏電流lk等參數(shù),以及對鐵電薄膜材料的鐵電疲勞性能、鐵電保持性能的測試。能夠較準(zhǔn)確地測量鐵電薄膜的鐵電性能。儀器采用一體化設(shè)計(jì),實(shí)現(xiàn)測試結(jié)果全數(shù)字化,操作簡單方便。
三、高溫鐵電測試儀軟件功能:
HC5000系列測試系統(tǒng)的軟件平臺(tái)haceprc,采用labview系統(tǒng)開發(fā),符合導(dǎo)體、半導(dǎo)體材料的各項(xiàng)測試需求,具備穩(wěn)定性,并具備斷電資料的保存功能,圖像資料可保存恢復(fù),兼容,XP、win7、win10系統(tǒng)。
使用介面:
2多語介面:支持中文/英文兩種語言界面;
2即時(shí)監(jiān)控:系統(tǒng)測試狀態(tài)即時(shí)瀏覽,無須等待;
2圖例管理:通過軟件中的狀態(tài)圖示,一目了然,立即對狀態(tài)說明,了解測試狀態(tài);
2使用權(quán)限:可設(shè)定使用者的權(quán)限,方便管理;
2故障狀態(tài):軟件具有設(shè)備的故障報(bào)警功能。
2集成Intel@Celeron 1037U 1.8GHZ 雙核處理器
2集成打機(jī)印接口,可擴(kuò)充8個(gè)USB接口
高溫鐵電測試儀技術(shù)參數(shù):
電壓范圍 | ±30V(可擴(kuò)展至±4kV) |
輸出電流峰值 | ±1A |
負(fù)荷電容 | 1μF |
動(dòng)態(tài)電滯回線測試頻率 | 0.001Hx~100kHz |
鐵電材料漏電流的測試 | 10pA~100mA |
脈沖寬度 | 25ns |
上升時(shí)間 | 7ns |
極化測試值 | 10fC |
塊體材料樣品盒測試溫度 | 室溫~1200°C電滯回線測定 |
產(chǎn)品特點(diǎn):
1、電滯回線測量、鐵電材料的飽和極化±PS、剩余極化±Pr、矯頑場±Ec、電容量C等參數(shù)
2、鐵電疲勞性能測量
3、鐵電保持性能測試
4、電阻測量
5、漏電流測量
6、高精度三維移動(dòng)平臺(tái)
主要應(yīng)用:
1. 鐵電材料的電滯回線(動(dòng)態(tài)與靜態(tài))、漏電流等特性。
2. 測量記錄在薄膜樣品上施加階躍電壓時(shí)的電流響應(yīng)。
3. 超晶格材料在方波脈沖電壓激勵(lì)下的自漏電特性。