射頻（RF）探針在射頻產(chǎn)品生命周期中幾乎每一個(gè)階段都起著重要作用：從技術(shù)開(kāi)發(fā)，模型參數(shù)提取，設(shè)計(jì)驗(yàn)證及調(diào)試一直到小規(guī)模生產(chǎn)測(cè)試和終的生產(chǎn)測(cè)試。通過(guò)使用射頻探針，人們便有可能在晶片層次上測(cè)量射頻組件的真正特性。這可以將研究和開(kāi)發(fā)時(shí)間縮短并且大大降低開(kāi)發(fā)新產(chǎn)品的成本。
村田探針主要有這幾種類(lèi)型：村田無(wú)電纜探針，村田電纜探針，無(wú)浮動(dòng)機(jī)構(gòu)的自動(dòng)探針，帶浮動(dòng)機(jī)構(gòu)的自動(dòng)探針，自動(dòng)探針（無(wú)張力型），校準(zhǔn)適配器。

村田無(wú)浮動(dòng)機(jī)構(gòu)的自動(dòng)探針可用于產(chǎn)線(xiàn)大批量測(cè)試。探針內(nèi)置在測(cè)量裝置內(nèi)，與連接器加壓連接，探針不帶夾爪鎖固功能，因此不會(huì)使連接器受損，探針不帶浮動(dòng)機(jī)構(gòu)，因此測(cè)量裝置應(yīng)具備浮動(dòng)機(jī)構(gòu)。
常用型號(hào)有MM126036  MM126038  MM126048,MM126310等。

村田電纜探針主要用于實(shí)驗(yàn)室評(píng)估。就是把探針與SMA接口延長(zhǎng)了，在中間加了一斷細(xì)軟射頻線(xiàn)，長(zhǎng)度通常為300mm，測(cè)量射頻電纜裝配探針。配合完成后，探針可憑借與連接器接觸點(diǎn)上的夾爪自行站立，配合完成后對(duì)探針施加的任何壓力都可能導(dǎo)致探針脫落，連接受損或電級(jí)剝離。需要細(xì)心使用測(cè)試。
常用型號(hào)有MXHS83QE3000,MXHQ87WJ3000,MXHQ87WA3000,MXHQ87PA3000,MXHQ87PK3000，
MXHQ87PP3000,MXHQ87PN3000等。

村田校準(zhǔn)適配器用于探針的校準(zhǔn)。適配器一側(cè)帶有SMA接頭，另一側(cè)匹配村田連接器形狀，可以連接網(wǎng)絡(luò)分析儀和相應(yīng)探針進(jìn)行校準(zhǔn)。常用型號(hào)有MM126312,MM126712等。
其他一些相關(guān)的概念
Probe pitch：指的是針尖(Probe Tips)之間的間距，一般在50-1000um之間不等。對(duì)于毫米波頻率的應(yīng)用，針尖間距一般都比較小。
Probe skate :當(dāng)你在Z軸方向往下“按壓”探針時(shí)，當(dāng)探針接觸到DUT，它將在ZY平面彎曲移動(dòng)。通常，這也是我們判斷針是否扎上的一個(gè)現(xiàn)象。
De-embeding :去嵌是在探針出現(xiàn)之前就有的技術(shù)，之前經(jīng)常用在一些標(biāo)準(zhǔn)的分立的夾具測(cè)試中。