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熱釋光的使用

使用熱釋光元件可以重復使用。但是，經(jīng)核輻射照射后的熱釋光體只允許一次加熱測量，因為加熱后，儲存的信息就被破壞了，不能復查測量結(jié)果。在劑量監(jiān)測中，萬一某次測量失誤，測量結(jié)果就被丟失。要再次使用時，熱釋光體要用高溫退火。對不同材料，退火溫度不完全相同。如對LiF，要在400℃下保持1h，在該條件下，可使400℃下的所有發(fā)光峰陷阱中的電子全部釋放出來，而陷阱能級并不破壞。

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熱釋光探測器的依據(jù)標準

熱釋光探測器的基本依據(jù)是某些材料的晶體受輻射照射后具有能量累積儲存作用。當加熱到一定溫度時又以發(fā)光的形式釋放能量，而且與受照射劑量成正比關(guān)系。

當磷光體（晶體）受到電離輻照時，射線與晶體相互作用，產(chǎn)生電離和激發(fā)，使晶體價帶中的電子獲得足夠的能量游離出來，上升到導帶，在價帶中剩下空穴。被電離激發(fā)的電子空穴在亞穩(wěn)態(tài)能級分別被晶體中的缺陷所俘獲（激發(fā)），這些缺陷稱為“陷阱”（俘獲電子的缺陷）或“中心”（俘獲空穴的缺陷），統(tǒng)稱為“發(fā)光中心”。處于亞穩(wěn)態(tài)能級上的電子和空穴在無外源激發(fā)的環(huán)境下，可以長時間滯留在缺陷中。隨著時間的積累，輻射劑量增加，被缺陷俘獲的受電離激發(fā)的電子和空穴數(shù)量增加，所以在線性劑量范圍內(nèi)磷光體熱釋光的強度與所接受的輻射劑量成正比。

當加熱磷光體時，電子和空穴從發(fā)光中心中逸出，電子和空穴快速復合，或游弋經(jīng)導帶后與禁帶中的空穴復合。在上述幾種復合過程中，都以可見光或紫外光的形式釋放能量，這種現(xiàn)象稱為熱釋光。

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熱釋光探測器的應(yīng)用

熱釋光探測器簡稱熱釋光劑量片，是近十年來在熱探測領(lǐng)域得到重要發(fā)展的一種新型熱探測器。據(jù)報道這種探測器可以廣泛地用于輻射溫度測量、紅外光譜測量等領(lǐng)域。紅外線的輻射波長約 0.77～1000pm，紅外輻射的不同波段有不同的應(yīng)用。從軍事上的紅外線制導紅外成像夜視，到包含高新技術(shù)的紅外氣象，從工業(yè)上普遍應(yīng)用的紅外光電計數(shù)器、紅外測溫儀、紅外氣體分析儀，到民用的波動式紅外防盜報警器、人體紅外自動照明開關(guān)等，紅外傳感技術(shù)已在空間、工農(nóng)業(yè)、民用等各個領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用。

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