人們早采用射頻探針技術與今天的工具是很不相同的，早期探針使用了由一個很短的線極尖（wire TIp）而逐漸收斂的50-Ω微帶線，通過探針基片上一個小孔而與被測器件（DUT）的壓點（pad）相接觸。此時，其技術難度在于如何突破4GHz時實現(xiàn)可重復測量。雖然有可能通過校準過程來剔除一個接觸線極尖相對較大的串聯(lián)電感的影響，但當圓晶片的夾具被移動時，線極尖的輻射阻抗會有較大的變化。高頻測量使用的極尖設計與用于直流和低頻測量的極尖不同，而且必須使50-Ω環(huán)境盡可能地接近于DUT壓點。
村田探針主要有這幾種類型：村田無電纜探針，村田電纜探針，無浮動機構(gòu)的自動探針，帶浮動機構(gòu)的自動探針，自動探針（無張力型），校準適配器。

村田無電纜探針主要用于實驗室評估，測量電纜能夠與村田探針相連，配合完成后，探針可憑借與連接器接觸點上的夾爪自行站立，配合完成后對探針施加的任何壓力都可能導致探針脫落，連接受損或電級剝離。需要細心使用測試。這類探針一般采用SMA接口進行轉(zhuǎn)接。

村田探針主要與帶開關的高頻同軸連接器和高頻同軸連接器相匹配來測試使用。不同型號的高頻同軸連接器對應的村田探針型號也不相同，不同的排列方式也有不同體積的探針選擇。

我們提供于村田連接器的一系列測量探針，請使用村田連接器的村田探針
MuRata村田射頻探針常用型號推薦：
MM126036、MM126310、MM126320、MM121497、MM121496、MM121491
MM121490、MM121660、MM121600、MM121500、MM121531、MM121537
MM121546、MM121592、MM206612、MM201618、MM206417、MM206810
MM126515、MM126715、MM126712、MM206819、MM201613、MM201670
MM201554、MM201610、MM201552、MM121661、MM121542、MXFQB1PY1000
其他一些相關的概念
Probe pitch：指的是針尖(Probe Tips)之間的間距，一般在50-1000um之間不等。對于毫米波頻率的應用，針尖間距一般都比較小。
Probe skate :當你在Z軸方向往下“按壓”探針時，當探針接觸到DUT，它將在ZY平面彎曲移動。通常，這也是我們判斷針是否扎上的一個現(xiàn)象。
De-embeding :去嵌是在探針出現(xiàn)之前就有的技術，之前經(jīng)常用在一些標準的分立的夾具測試中。