射頻探針應(yīng)用于：
1）射頻和微波模塊信號插入，檢測和測量輸出；
2）高頻電路板電氣性能分析；
3）高速數(shù)字電路分析
村田自動探針（無張力型）可用于產(chǎn)線大批量測試，其與帶浮動機構(gòu)的自動探針功能相同，該探針具有結(jié)構(gòu)，因此不受電纜張力影響，該探針使轉(zhuǎn)換電纜更易操作。

奧納科技銷售射頻探針，主要是日本muRata村田探針。
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圖片列表為常用型號圖片，僅作為展示使用，請以實物為準(zhǔn)。

村田校準(zhǔn)適配器用于探針的校準(zhǔn)。適配器一側(cè)帶有SMA接頭，另一側(cè)匹配村田連接器形狀，可以連接網(wǎng)絡(luò)分析儀和相應(yīng)探針進(jìn)行校準(zhǔn)。常用型號有MM126312,MM126712等。

村田探針主要與帶開關(guān)的高頻同軸連接器和高頻同軸連接器相匹配來測試使用。不同型號的高頻同軸連接器對應(yīng)的村田探針型號也不相同，不同的排列方式也有不同體積的探針選擇。
其他一些相關(guān)的概念
Probe pitch：指的是針尖(Probe Tips)之間的間距，一般在50-1000um之間不等。對于毫米波頻率的應(yīng)用，針尖間距一般都比較小。
Probe skate :當(dāng)你在Z軸方向往下“按壓”探針時，當(dāng)探針接觸到DUT，它將在ZY平面彎曲移動。通常，這也是我們判斷針是否扎上的一個現(xiàn)象。
De-embeding :去嵌是在探針出現(xiàn)之前就有的技術(shù)，之前經(jīng)常用在一些標(biāo)準(zhǔn)的分立的夾具測試中。