EMC報(bào)告-EMC靜電測試辦理標(biāo)準(zhǔn)方式
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發(fā)布日期 2021/7/29
商品介紹

EMC靜電測試辦理標(biāo)準(zhǔn)方式有哪些？可以聯(lián)系我司億博檢測了解詳情。靜電測試，又叫靜電抗干擾測試，有時(shí)候又簡稱為ESD。是EMC檢測中非常重要的一個(gè)步驟。需要做EMC靜電測試歡迎來電聯(lián)系我司億博檢測進(jìn)行辦理。



EMC靜電測試簡介

靜電放電（Electrostatic discharge）：具有不同靜電電位之物體在相互靠近或直接接觸引起之電荷轉(zhuǎn)移現(xiàn)象。靜電放電（ESD）的模型以及工業(yè)測試標(biāo)準(zhǔn)，因ESD產(chǎn)生的原因及其放電的方式不同，ESD目前大體上被分為下列四類：

1、人體放電模型（Human-Body Model,HBM）

2、機(jī)器放電模型（Machine Model,MM）

3、元件充電模型（Charged-Device Model,CDM）

4、電場感應(yīng)模型（Field-Induced Model,FIM）

EMC靜電測試目的：

IEC61000-4-2標(biāo)準(zhǔn)設(shè)立之目的主要建立共通的和可重現(xiàn)性之基準(zhǔn)

用來評(píng)核電力和電子設(shè)備在遭受靜電放電后呈現(xiàn)之性能否符合法規(guī)之規(guī)范除上之外，它還包括從人體接近被害設(shè)備物體間之發(fā)生之靜電放電。

EMC靜電測試法規(guī)：

靜電測試歐洲法規(guī)：EN61000-4-2

靜電測試中國標(biāo)準(zhǔn)：GB17626.2

靜電測試國際法規(guī)：IEC61000-4-2

以上法規(guī)僅僅規(guī)定了靜電測試的測試方法。

如果一個(gè)產(chǎn)品要確定測試靜電項(xiàng)目的測試等級(jí)，需要在產(chǎn)品類別法規(guī)中體現(xiàn)。

如果一個(gè)信息技術(shù)產(chǎn)品，在EN55024中規(guī)定了交流供電產(chǎn)品測試的靜電測的測試等級(jí)為

接觸放到位+/-4KV,空氣放電為+/-8KV

EMC靜電測試辦理方式

1、人體放電模型（Human-Body Model,HBM）:

人體放電模型（HBM）的ESD是指因人體在地上走動(dòng)摩擦或其他因素在人體上已累積了靜電，當(dāng)此人去碰觸到IC

時(shí)，人體上的靜電便會(huì)經(jīng)由IC的腳（pin）而進(jìn)入IC內(nèi)，再經(jīng)由IC放電到地去，

2、機(jī)器放電模型（Machine Model,MM）

機(jī)器放電模型的ESD是指機(jī)器（例如機(jī)械手臂）本身累積了靜電，當(dāng)此機(jī)器去碰觸到IC時(shí)，該靜電便經(jīng)由IC的pin放電。此機(jī)器放電模式的工業(yè)測試標(biāo)準(zhǔn)為EIAJ-IC-121 method20。

3、元件充電模型（Charged-Device Model,CDM）

此放電模式是指IC先因摩擦或其他因素而在IC內(nèi)部累積了靜電，但在靜電累積的過程中IC并未被損傷。此帶有靜電的IC在處理過程中，當(dāng)其pin去碰觸到接地面時(shí)，IC內(nèi)部的靜電便會(huì)經(jīng)由pin自IC內(nèi)部流出來，而造成了放電的現(xiàn)象。

4、電場感應(yīng)下面（Field-Induced Model,FIM）

此FIM模型的靜電放電發(fā)生是因電場感應(yīng)而起的，當(dāng)IC因輸送帶或其他因素而經(jīng)過一電場時(shí)，其相對(duì)極性的電荷可能會(huì)自一些IC腳而排放掉，等IC通過電場之后，IC本身便累積了靜電荷，此靜電荷會(huì)以類似CDM的模式放電出來。
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