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產(chǎn)品用途：

高低溫（濕熱）低氣壓試驗(yàn)箱用于航空、航天、信息、電子等領(lǐng)域，儀器儀表、電工產(chǎn)品、材料、零部件、設(shè)備在低氣壓、高溫、低溫或高低溫濕熱低氣壓環(huán)境下的環(huán)境適應(yīng)性與可靠性試驗(yàn)，并或同時(shí)對(duì)測(cè)試件通電進(jìn)行電氣性能參數(shù)的測(cè)量。

滿足標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T 10590-2008 低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB/T 2423.25-2008 低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)方法

GB/T 2423.26-2008 高溫/低氣壓綜合試驗(yàn)方法

GJB 150.2A -2009 低氣壓高度試驗(yàn)方法（快速降壓除外）

GJB 150.3A-2009 高溫試驗(yàn)方法

GJB 150.4A-2009 低溫試驗(yàn)方法

GJB 150.24A-2009 溫度-濕度-振動(dòng)-高度試驗(yàn)方法（振動(dòng)除外）

GJB 360A-2009 電子及電氣元件試驗(yàn)方法105低氣壓試驗(yàn)的要求

GB/T 5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備

GB/T 5170.10-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備

主要技術(shù)指標(biāo)：