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檢測開關(guān)避免干擾波導(dǎo)致的破損

由干擾波帶來的破損是慢慢形成的，因此在開始使用后的一個月或二三個月后發(fā)生破損是極其普通的。因此，在該期間發(fā)生破損時，其原因則可判斷為干擾波。電感負(fù)載開閉時發(fā)生的檢測開關(guān)的瞬間錯誤動作是由干擾波造成的。

1. 接點輸出式

以微型開關(guān)、限位開關(guān)、繼電器的接點為輸出的開關(guān)要素，與電磁開關(guān)、小型馬達(dá)、電磁器等連接作為主要目的，可進(jìn)行數(shù)安培電流的開關(guān)控制。與電子控制設(shè)備連接時，需注意振動時間、z小負(fù)荷電流。

檢測開關(guān)避免干擾波導(dǎo)致的破損

直流2線式

該方式的接近開關(guān)有2根導(dǎo)線，因此，使用時對極性予以注意的話，不僅使用方法可與機(jī)械式限位開關(guān)相同，而且配線簡單，但需注意下述狀況。

（1） 即使開關(guān)處于關(guān)閉狀態(tài)，也需向接近開關(guān)的檢測電路供給電流。為此，負(fù)荷中有微量電流流動。該電流稱為漏電流。漏電流時，負(fù)荷兩端產(chǎn)生“漏電流×負(fù)荷也是造成使用初期故障的原因。初期故障的發(fā)生時間，根據(jù)制造方法的不同而不同，不能一概而論，一般多發(fā)生在使用開始后的一星期到10天內(nèi)。

（2）偶發(fā)故障

包括由于半導(dǎo)體部件的不良而引起的故障，電阻、電容的斷線、短路、容量不足，電路板的電路斷裂、帶焊料等的不良現(xiàn)象，但發(fā)生率極低。接近開關(guān)經(jīng)常發(fā)生故障時，可以考慮為使用環(huán)境的問題，請向廠家咨詢。

選擇檢測開關(guān)的方法：

1、首先為引腳基材，檢測開關(guān)的引腳基材為黃銅或磷銅（低檔次的為鐵），為減少接觸電阻，引腳基本上鍍銀處理，為銀遇空氣中的SO2氣體會氧化，直接影響開關(guān)的可焊性和接觸電阻，所以高質(zhì)量的檢測開關(guān)首先要在引腳的基材鍍銀厚度和鍍銀工藝方面進(jìn)行控制到位。

2、出廠檢驗的方法和項目也影響z終檢測開關(guān)的質(zhì)量，例如是外觀、手感、導(dǎo)通、電阻等項目是抽檢還是全檢，例如一些大廠要求的廢品率是PPM來衡量的或零缺陷，就要在出廠檢驗設(shè)置全檢后還要設(shè)置抽檢或質(zhì)量稽查等工序。