BZ-DICE-KM5 數(shù)字模擬電路綜合實驗箱

一、實驗箱硬件資源介紹

 

序號

名稱

指標

1

電源

輸入：~ 220V/50Hz±10%；

輸出：DC ±12V、+5V多路穩(wěn)壓源，大輸出電流均為1A；DC -5～-12V ,+5～+27V兩路連續(xù)可調(diào)，大輸出電流均為 500mA；兩路交流~ 7.5V、一路交流~15V，大輸出電流為250mA。

+5V帶有短路音響報警功能，以上各路輸出均有過流保護，自恢復(fù)功能。    

2

DDS函數(shù)發(fā)生器

 

輸出波形：正弦波，方波（占空比可調(diào)），三角波，鋸齒波，四脈方列、八脈方列。

頻率范圍：0.01Hz ~ 5MHz（頻率可精.確調(diào)節(jié)）

頻率分辨率:0.01Hz(10mHz) 

輸出幅值：≥10Vp-p(空載)

輸出阻抗：51Ω±10%

方波占空比范圍:  1%~99%

TTL 輸出: 頻率范圍0.01Hz ~ 5MHz      幅度>3Vp-p

掃頻功能: 支持線性掃描和對數(shù)掃描方式；頻率設(shè)定范圍0.01Hz ~ 5MHz；

            頻率掃描范圍， M1預(yù)設(shè)頻率~M2預(yù)設(shè)頻率；掃描速率 1s~99s/步進。

3

數(shù)字頻率計

測量范圍:0-60MHZ ，液晶顯示，可對內(nèi)部/外部信號進行頻率測量

4

計數(shù)器

計數(shù)范圍:0-4294967295，輸入幅度：1Vp-p~20Vp-p

5

數(shù)碼管顯示

6位帶BCD碼-十進制譯碼電路七段LED數(shù)碼管以及1位不帶譯碼電路的七段LED數(shù)碼管電路（可接共陰或共陽數(shù)碼管，并設(shè)有限流電阻）；

6

邏輯開關(guān)及電平指示

(1)16組獨立邏輯電平開關(guān)：可輸出“0”、“1”電平（為正邏輯）。

(2)16組電平顯示：由LED發(fā)光二極管及驅(qū)動電路組成。

7

單脈沖

消抖脈沖，可同時輸出正負兩個脈沖，脈沖幅值為TTL電平,共2組；

8

可調(diào)直流

信號源

雙路輸出，-0.5V～＋0.5V；－5V～＋5V兩檔連續(xù)可調(diào)。

9

邏輯筆

具有測定高電平、低電平、中間電平及脈沖測試等功能

10

元件庫

板載5只可調(diào)電位器：1K、10K、100K、470K、1M；

揚聲器 1只；

蜂鳴器及驅(qū)動電路 1只；

繼電器及控制電路 1只；

按鈕開關(guān)2組，

多種規(guī)格阻容元件，參數(shù)在面板上標明；

并提供多組圓孔針，可方便用戶接插各種不同電阻，電容，二極管，三極管等器件。

9

集成底座

雙列直插式集成電路插座：14腳4只、16腳6只

40P鎖緊式插座：1只（可插8腳、14腳，16腳，18腳，20腳、24腳、28腳、32腳，40腳等多種規(guī)格的DIP封裝芯片）

10

實驗區(qū)插孔

采用鍍金小型孔，不氧化，美觀漂亮，實用性強，實驗導(dǎo)線插頭采用鍍金工藝制作，鎖緊式，插拔更方便，接觸可靠，使用壽命更長 ，可疊插。

11

測試環(huán)

測試信號通過測試環(huán)引出，采用歐洲進口測試環(huán)，三腳2.54標準間距，兩點焊接，堅固耐用，方便探頭連接測試。

12

模擬電路

模塊

雙組集成運放電路、交流電源電路、橋式整流濾波電路、串聯(lián)穩(wěn)壓電路、集成穩(wěn)壓電路一、集成穩(wěn)壓電路二、分立放大電路、差分放大電路、場效應(yīng)管電路、集成功率放大電路、OTL功率放大器、晶閘管電路

13

外形尺寸

長×寬×高=470mm×360mm×140mm；

選配模塊

14

MCS-51單片機模塊

  （1）CPU:AT89S52。

  （2）11.05924MHz晶振。

  （3）標準JTAG接口，支持在線編程。

  （4）外部復(fù)位電路。

  （5）所有IO口均引出并加清晰標注。

  （6）提供USB接口ISP下載器。

15

CPLD模塊

  （1）CPU: EPM1270T144, Altera公司40000門CPLD器件；

  （2）標準JTAG接口，支持在線編程。

  （3）提供USB-Blaster下載器，支持三種下載模式：AS、PS和JTAG；支持WindowsXP,Windows Vista, Windows7(32bit/64bit)系統(tǒng)，USB 2.0 接口；

16

邏輯分析儀

24M采樣率，8組數(shù)字通道，可以自動分析UART,IIC,SPI等諸多標準協(xié)議。配置USB通訊線及測試杜邦線

16

面包板

可選配面包板，提供連接線，方便與主板連接實驗。

二、實驗內(nèi)容： 

（1）數(shù)字部分實驗內(nèi)容：

基本實驗部分：

實驗一     門電路邏輯功能及測試

實驗二     譯碼器和數(shù)據(jù)選擇器

實驗三     運算電路(半加器、全加器及邏輯運算)

實驗四     觸發(fā)器 R-S、D 、J-K

實驗五     計數(shù)器電路測試及研究

實驗六     波形產(chǎn)生及單穩(wěn)態(tài)觸發(fā)器

實驗七     集成計數(shù)器及寄存器

實驗八     555 時基電路

實驗九     三態(tài)輸出觸發(fā)器及鎖存器

選做實驗部分：

實驗十      COMS 門電路測試

實驗十一    TS門，OC門的功能測試及應(yīng)用

實驗十二    TTL 不同系列芯片性能和參數(shù)的測定

實驗十三    門電路的驅(qū)動能力測試

實驗十四    邏輯筆實驗與分析

實驗十五    TTL 與CMOS相互連接實驗

實驗十六    MSI 加發(fā)器

實驗十七    競爭冒險

實驗十八    觸發(fā)器應(yīng)用

實驗十九    寄存器及其應(yīng)用

實驗二十    計數(shù)器MSI 芯片的應(yīng)用

實驗二十一  時序電路應(yīng)用

實驗二十二  順序脈沖和脈沖分配器電路

實驗二十三  施密特觸發(fā)器及其應(yīng)用

實驗二十四  單穩(wěn)態(tài)觸發(fā)器及其應(yīng)用

實驗二十五  多路模擬開關(guān)及其應(yīng)用

實驗二十六  數(shù)字定時器

實驗二十七  電壓變換器

實驗二十八  四路優(yōu)先判決電路

 

（2）模擬部分實驗內(nèi)容：

實驗一     單級放大電路 

實驗二     兩級放大電路

實驗三     負反饋放大電路 

實驗四     射極跟隨器 

實驗五     差動放大電路

實驗六     比例求和運算電路

實驗七     積分與微分電路

實驗八     波形發(fā)生電路

實驗九     有源濾波器

實驗十     電壓比較器 

實驗十一   IC電路RC正弦波振蕩器

實驗十二   集成功率放大器

實驗十三   整流濾波與并聯(lián)穩(wěn)壓電路

實驗十四   串聯(lián)穩(wěn)壓電路

實驗十五   集成穩(wěn)壓器

實驗十六   RC正弦波振蕩器

實驗十七   LC振蕩器及選頻放大器

實驗十八   電流/電壓轉(zhuǎn)換電路

實驗十九   電壓/頻率轉(zhuǎn)換電路

實驗二十   互補對稱功率放大器

實驗二十一 波形變換電路

實驗二十二 揚效應(yīng)管實驗(新增)

 

實驗二十三 可控硅實驗電路(新增)