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Phoenix-X射線檢測(cè)系統(tǒng)
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phoenix|xray 根據(jù)不用的應(yīng)用領(lǐng)域提供microfocus 和nanofocusTM X 射線系統(tǒng),并針對(duì)用于電子、半導(dǎo)體、汽車、航空等眾多行業(yè)中的二維自動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng)提供完整的、個(gè)性化的解決方案。這些解決方案主要應(yīng)用于半導(dǎo)體包裝、PCB(印刷電路板)組裝、印刷電路板多層板生產(chǎn)、微觀力學(xué)和電機(jī)。
亞微米分辨率計(jì)算機(jī)層析技術(shù)系統(tǒng)
除二維檢測(cè)系統(tǒng)外,phoenix|xray 還提供應(yīng)用范圍廣泛的高分辨率計(jì)算機(jī)層析技術(shù)系統(tǒng)。如
nanotom 是專門應(yīng)用于材料學(xué)、微觀力學(xué)、電子學(xué)、地質(zhì)學(xué)和生物學(xué)領(lǐng)域的160 千伏
nanofocusTM 系統(tǒng)。該系統(tǒng)可用于合成材料、陶瓷、復(fù)合材料、金屬或巖石等各種材料樣本的微
觀結(jié)構(gòu)三維檢測(cè)。