TX III臺(tái)式XRD分析儀

BTX III X射線衍射（XRD）分析儀是一款機(jī)身小巧的臺(tái)式分析儀，可以快速為用戶提供礦物主要成分和次要成分的可靠的定量性礦物學(xué)信息。

BTX III分析儀配備有一個(gè)獨(dú)特小巧的樣品托盤，可以替代傳統(tǒng)的臺(tái)式XRD儀器，而且重量很輕，幾乎無需維護(hù)。這款獨(dú)立式儀器無需壓縮氣體、水冷裝置、二次冷水機(jī)組，或外置變壓器，即可進(jìn)行操作，因此可以保持較低的擁有成本。操作人員通過使用以太網(wǎng)或無線連通性能，可以將XRD儀器直接與其他設(shè)備連接。

奧林巴斯的XRD分析儀采用了具有以下特性的直觀的SwiftMin軟件：單屏控制面板顯示多種數(shù)據(jù)、預(yù)先設(shè)置校準(zhǔn)程序、輕松導(dǎo)出數(shù)據(jù)，以及自動(dòng)數(shù)據(jù)傳輸，從而簡化了用戶的工作流程

奧林巴斯XRD分析儀的優(yōu)勢特性

方便的樣本制備：傳統(tǒng)的臺(tái)式XRD儀器一般會(huì)要求檢測人員進(jìn)行大量的樣品收集和制備工作，因?yàn)楸仨氁獙⒋笈康臉悠费心コ煞勰⒕牡啬雺撼尚∏驙睢?br style="-webkit-tap-highlight-color: rgba(0, 0, 0, 0);">同時(shí)測量：傳統(tǒng)的臺(tái)式XRD儀器需要幾秒鐘時(shí)間獲得每個(gè)2-theta測量值，因此要獲得所有2-theta測量值，可能需要長達(dá)幾個(gè)小時(shí)的時(shí)間。奧林巴斯XRD分析儀裝配有電荷耦合裝置（CCD）探測器，可以同時(shí)獲得所有2-theta測量值，因此幾乎可以使完整的衍射圖形立即顯示在屏幕上。
2D X射線衍射儀：許多XRD工具使用X射線探測器，僅能捕獲樣品在一個(gè)平面中脫落的光子，即完成一維實(shí)驗(yàn)。奧林巴斯裝配有電荷耦合裝置（CCD）探測器的XRD分析儀，可以采集衍射環(huán)的切片，以幫助用戶了解是否正確制備了樣品（粒子統(tǒng)計(jì)和/或晶粒的擇優(yōu)取向）。根據(jù)這些信息，用戶可以確認(rèn)所獲得定量性數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性和代表性。
透視幾何：與使用反射幾何技術(shù)的大型傳統(tǒng)XRD儀器不同，奧林巴斯的XRD分析儀在X射線束穿過樣品的位置處使用透射幾何技術(shù)。樣品池中的樣品量固定不變，因此樣品密度的變化不會(huì)影響分辨率
能量區(qū)分X射線探測器：較大的傳統(tǒng)臺(tái)式XRD儀器一般不能使用對能量較為敏感的探測器，因此探測器會(huì)受到XRD實(shí)驗(yàn)中未使用的光子的影響。相比之下，奧林巴斯的XRD分析儀可以去除那些未直接參與到X射線衍射實(shí)驗(yàn)中的光子，
鈷射線管和銅射線管選項(xiàng)：奧林巴斯XRD分析儀的標(biāo)準(zhǔn)配置裝配有一個(gè)堅(jiān)固耐用的鈷（Co）靶材X射線管。這種陽極射線管廣受地質(zhì)學(xué)家和礦物學(xué)家的青睞，因?yàn)樵诜治鲨F（Fe）含量較高的樣品時(shí)，這種射線管可以發(fā)揮出色的性能。不過，在某些應(yīng)用中（如：樣品中錳含量很高），需要使用銅（Cu）靶材X射線管。根據(jù)用戶具體應(yīng)用的需要，奧林巴斯可以提供這兩種陽極靶材X射線管的任何一種。

1、BTXⅡ儀器原理

BTXⅡ是XRD家族中一款顛覆性的產(chǎn)品，采用的2D-XRD技術(shù)，與傳統(tǒng)大型臺(tái)式1D-XRD相比較，具有原理構(gòu)造上的創(chuàng)新，其表現(xiàn)在：

1) 采用衍射幾何技術(shù)：即X光束直接穿透樣品，探測器接收的是 透過樣品的衍射光束而非傳統(tǒng)臺(tái)式機(jī)探測器接收的反射光束。

2) 采用大面積二維CCD探測器而非傳統(tǒng)一維計(jì)數(shù)器，探測面積為1024 x 256 pixels，且能同步進(jìn)行XRD和XRF信息采集。

3) 采用樣品振動(dòng)系統(tǒng)（NASA），不使用傳統(tǒng)測角儀，在樣品檢測過程中，X光束和探測器均靜止不動(dòng)，而所檢測樣品通過磁性連鎖裝置高速振動(dòng)，以獲取衍射信息。

XRD基本原理—布拉格定律     BTXⅡ原理構(gòu)造圖              BTXⅡ機(jī)體

2、BTXⅡ測試原理

BTXⅡ測試分為三步，啟動(dòng)儀器（無需儀器校正）—制樣裝樣—檢測。使用BTXⅡ專門配置的樣品制備系統(tǒng)，將樣品研磨成粉末（粒徑D<150um），然后裝填進(jìn)樣品室中（樣品量m~15mg），X光束穿透樣品，探測器接收衍射光束，形成衍射圖譜，得到樣品信息。