不同元素的熒光x射線具有各自的特定波長(zhǎng)或能量，因此根據(jù)熒光x射線的波長(zhǎng)或能量可以確定元素的組成。如果是波長(zhǎng)色散型光譜儀，對(duì)于一定晶面間距的晶體，由檢測(cè)器轉(zhuǎn)動(dòng)的2e角可以求出x射線的波長(zhǎng)入，從而確定元素成份。對(duì)于能量色散型光譜儀，可以由通道來(lái)判別能量，從而確定是何種元素及成份。但是如果元素含量過(guò)低或存在元素間的譜線干擾時(shí)，仍需人工鑒別。首先識(shí)別出管靶材的特征x射線和強(qiáng)峰的伴隨線，然后根據(jù)能量標(biāo)注剩余譜線。在分析未知譜線時(shí)，要同時(shí)考慮到樣品的來(lái)源、性質(zhì)等元素，以便綜合判斷。

3、X熒光光譜儀定量分析

X射線熒光光譜法進(jìn)行定量分析的根據(jù)是元素的熒光X射線強(qiáng)度Ii與試樣中該元素的含量Ci成正比:Ii=Is×Ci式中Is為Ci=100%時(shí)，該元素的熒光X射線的強(qiáng)度。根據(jù)上式，可以采用標(biāo)準(zhǔn)曲線法、增量法、內(nèi)標(biāo)法等進(jìn)行定量分析。但是這些方法都要使標(biāo)準(zhǔn)樣品的組成與試樣的組成盡可能相同或相似，否則試樣的基體效應(yīng)是指樣品的基本化學(xué)組成和物理化學(xué)狀態(tài)的變化對(duì)X射線熒光強(qiáng)度所造成的影響?；瘜W(xué)組成的變化，會(huì)影響樣品對(duì)一次X射線和X射線熒光的吸收，也會(huì)改變熒光增應(yīng)。例如，在測(cè)定不銹鋼中Fe和Ni等元素時(shí)，由于一次X射線的激發(fā)會(huì)產(chǎn)生Nika熒光X射線，Nika在樣品中可能被Fe吸收，使Fe激發(fā)產(chǎn)生Feka。測(cè)定Ni時(shí)，因?yàn)镕e的吸收效應(yīng)使結(jié)果偏低，測(cè)定Fe時(shí)，由于熒光增應(yīng)使結(jié)果偏高。

ZSX Primus中具有一個(gè)30μm的X射線管（工業(yè)中薄端窗的X射線管），用于特殊輕元素（低原子序數(shù)）檢出限。結(jié)合了的Mapping分析包來(lái)檢測(cè)均質(zhì)性和夾雜物，ZSX Primus簡(jiǎn)單地提供了其他分析方法無(wú)法提供的詳細(xì)樣品分析。可用多點(diǎn)分析幫助消除非均質(zhì)材料的抽樣誤差。

EZ掃描允許用戶在沒有事先設(shè)定任何條件的情況下分析未知樣品。此節(jié)省時(shí)間的功能僅要求單擊幾次鼠標(biāo)和輸入樣品名稱。結(jié)合SQX基本參數(shù)軟件，可以提供準(zhǔn)確、快速的XRF的結(jié)果。SQX可以自動(dòng)修復(fù)包括重疊的全部矩陣效果。SQX還可以通過(guò)光電子（輕元素和超輕元素）、變化的氣體環(huán)境、雜質(zhì)和不同的樣品尺寸，校正二次激發(fā)的效應(yīng)。

產(chǎn)品資源豐富，種類齊全，涵蓋實(shí)驗(yàn)室通用儀器、化學(xué)分析、表面科學(xué)等，如全譜直讀光譜儀、波長(zhǎng)\能量色散型X射線熒光光譜儀、電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀、輝光放電光譜儀、紫外可見分光光譜儀、分子熒光光譜儀、原子吸收光譜儀、掃描電鏡、原子力顯微鏡、金相顯微鏡、氧氮?dú)浞治鰞x、碳硫分析儀等。

多達(dá)40種元素的同時(shí)元素測(cè)試

Simultix14提供從Be到U的同時(shí)元素分析。為了分析多達(dá)40種的元素，分析儀配備了一個(gè)3kW（或者4kW選購(gòu)）60kV端窗的X射線管，用于所有固定道的背景校正，以及對(duì)數(shù)螺線晶體和優(yōu)化的光學(xué)路徑。

Features

廣泛的元素分析范圍Be～U

3kW（或者4kW選購(gòu)）60kV端窗的X射線管

多達(dá)40個(gè)固定道

固定道的背景校正

對(duì)數(shù)螺線晶體和優(yōu)化的光學(xué)路徑

設(shè)計(jì)小巧

可在線進(jìn)行過(guò)程控制

8或48位樣品自動(dòng)轉(zhuǎn)換器

多窗口、多功能基本參數(shù)（FP）軟件