WDX-4000 美程，在國家重大科學(xué)儀器設(shè)備開發(fā)專項(xiàng)（項(xiàng)目編號(hào)：2011YQ170065）資金支持下，融合獨(dú)有的科技創(chuàng)新和發(fā)明，推出的國內(nèi)首臺(tái)商業(yè)化順序式波長色散X射線熒光光譜儀。WDX-4000通過了《JJG 810-1993波長色散X射線熒光光譜儀檢定規(guī)程》的測試，能檢測元素周期表上從Be-4到U-92的元素，可應(yīng)用于地質(zhì)、水泥、鋼鐵和環(huán)保等領(lǐng)域。WDX-4000采用大量通用化的設(shè)計(jì)，可以提供給客戶經(jīng)濟(jì)便捷的維護(hù)。

性能特點(diǎn):

創(chuàng)新的測角儀設(shè)計(jì)
專利保護(hù)的創(chuàng)新型鋼帶傳動(dòng)系統(tǒng)，可以提供穩(wěn)定、無回程間隙的旋轉(zhuǎn)運(yùn)動(dòng)，以保證高精度的角度定位要求；
θ/2θ兩軸獨(dú)立運(yùn)動(dòng)，并配合伺服電機(jī)和圓光柵構(gòu)成閉環(huán)系統(tǒng)；
永磁式交流伺服電機(jī)提供業(yè)界頂級(jí)的高速平滑運(yùn)動(dòng)；
圓光柵測角重復(fù)性可達(dá)±0.0002度，精度達(dá)±0.0006度，足以保證優(yōu)異的角度測量性能；

數(shù)字多道分析儀
12位，80M/s的模數(shù)轉(zhuǎn)換采樣率，是業(yè)界高分辨率的信號(hào)采樣系統(tǒng)，保證了信號(hào)采集的完整性
基于高速FPGA框架以及可靠的數(shù)字信號(hào)處理算法，4096道分析系統(tǒng)足以從噪聲中篩選正確的X射線信號(hào)
大動(dòng)態(tài)范圍測量，有效減少了探測器增益調(diào)節(jié)次數(shù)

X射線光管和高壓
標(biāo)準(zhǔn)的4kW大功率電源系統(tǒng)，支持高靈敏度的痕量檢測以及更快的檢驗(yàn)速度
50um/75um的鈹窗厚度保證超高的X射線穿透率，尤其適合低能X射線穿過
高壓電源電壓和電流最高可達(dá)60kV和160mA，用戶可根據(jù)實(shí)際需要靈活設(shè)置電壓和電流參數(shù)
雙通道水冷系統(tǒng)，電導(dǎo)率保持在1uS以下，以最大限度延長光管工作壽命其他
最多可支持10塊晶體，可根據(jù)客戶需求提供專門優(yōu)化的人工多層膜晶體，以提升輕元素的檢測能力
最薄可達(dá)0.3um的正比流氣計(jì)數(shù)器窗膜，極大提升了輕元素的光通量

工作模式：創(chuàng)新型鋼帶傳動(dòng)系統(tǒng)，無摩擦，無回程間隙，帶有圓光柵反饋，θ/2θ兩軸獨(dú)立運(yùn)動(dòng)
最大轉(zhuǎn)角速度：6000  2θ/min
測角精度：0.0006° θ / 2θ
測角重復(fù)性：0.0002° θ / 2θ
步進(jìn)角度：最小 0.0001°，最大1°
角度掃描范圍：流氣比例計(jì)數(shù)器:12° to 150°@2θ
閃爍計(jì)數(shù)器: 0° to 120°@2θ
光路
準(zhǔn)直器面罩：單面罩，(其他尺寸27， 32 or 50mm可選)
主準(zhǔn)直器：最多可裝3個(gè): 100， 150， 300， 550， 700 or 4000 um， 可選
主濾光片：最多4片: Pb，Al，Cu等元素可選
晶體：最多10個(gè): LiF420，LiF220，LiF200，Ge111，PE002，InSb， TIAP，以及用于輕元素測量的各種人工多層膜晶體.
探測器：流氣比例計(jì)數(shù)器 (FPC)， 可配0.3um厚的窗膜
閃爍計(jì)數(shù)器 (SC)
光室真空度：<15Pa
信號(hào)處理
數(shù)字多道分析儀：12位，80M/s采樣速度，4096道分析能力，采用FPGA框架以及可靠的DSP算法用于信號(hào)和噪聲分離
最大計(jì)數(shù)率：流氣比例計(jì)數(shù)器:2Mcps
閃爍計(jì)數(shù)器: 1.5Mcps
脈沖漂移和增益校正：自動(dòng)
時(shí)間校正：自動(dòng)