X熒光光譜儀熒光光譜儀 臺式x熒光光譜儀熒光光譜儀熒光 日本理學(xué)
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X熒光光譜儀熒光光譜儀-臺式x熒光光譜儀熒光光譜儀熒光-日本理學(xué)

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廣州儀德精密科學(xué)儀器股份有限公司

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商品介紹
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是否進(jìn)口 進(jìn)口
產(chǎn)地 日本
產(chǎn)品名 波長色散X射線熒光光譜儀
報價方式 按實際訂單報價為準(zhǔn)
產(chǎn)品編號 7751015
商品介紹

X熒光光譜儀測試方法:

1、X熒光光譜儀樣品制備

進(jìn)行x射線熒光光譜分析的樣品,可以是固態(tài),也可以是水溶液。無論什么樣品,樣品制備的情況對測定誤差影響很大。對金屬樣品要注意成份偏析產(chǎn)生的誤籌;化學(xué)組成相同,熱處理過程不同的樣品,得到的計數(shù)率也不同;成份不均勻的金屬試樣要重熔,快速冷卻后車成圓片;對表面不平的樣品要打磨拋光;對于粉末樣品,要研磨至300目一400目,然后壓成圓片,也可以放人樣品槽中測定。對于固體樣品如果不能得到均勻平整的表面,則可以把試樣用酸溶解,再沉淀成鹽類進(jìn)行測定。對于液態(tài)樣品可以滴在濾紙上,用紅外燈蒸干水份后測定,也可以密封在樣品槽中??傊鶞y樣品不能含有水、油和揮發(fā)性成份,更不能含有腐蝕性溶劑。






我國學(xué)者對不同時期WDXRF的進(jìn)展曾予以評述。WDXRF譜儀從儀器光路結(jié)構(gòu)來看,依然是建立在布拉格定律基礎(chǔ)之上,但儀器面目全新??v觀30年來的發(fā)展軌跡,可總結(jié)出如下特點(diǎn) 。

定性和半定量分析自動化。在20世紀(jì)80年代,由有經(jīng)驗的分析工作者通過查閱掃譜圖來判斷定性分析結(jié)果,但要依據(jù)定性分析結(jié)果估算為含量是十分困難的。現(xiàn)在商品儀器基本上配有定性和無標(biāo)準(zhǔn)樣(半)定量分析軟件,在絕大多數(shù)情況下不僅自動給出樣品的元素組成,還可得出近似定量的分析結(jié)果。




低成本

理學(xué)的Supermini200不僅是XRF元素分析需要的一個經(jīng)濟(jì)實惠的選擇,運(yùn)行成本也很低。只有氣流正比探測器的P10氣體為消耗物。Supermini200不需要冷卻水、管道或外部冷卻裝置。因此降低了系統(tǒng)維修和產(chǎn)品生命周期成本,以及耗材和維修的年度預(yù)算。

超級輕元素性能

分析從微量到高濃度的具有廣泛范圍的輕元素和重元素的復(fù)雜基體材料,是儀器的核心技術(shù)。理學(xué)的Supermini200為了解決復(fù)雜基體中的線重疊,無需反卷積,提供輕元素高靈敏度和卓越的光譜分辨率。輕元素(F、Na、Mg、Ca、Si、Al和P)的低濃度水平分析簡單。




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