廣州儀德精密科學(xué)儀器股份有限公司主營業(yè)務(wù)有：進口直讀光譜儀，火花直讀光譜儀，光電直讀光譜儀，手持直讀光譜儀，臺式直讀光譜儀等等

手持式光譜儀分析鑄鐵化學(xué)成份偏差原因

用光譜儀進行爐前鐵水化學(xué)元素含量分析,是近年來鑄造行業(yè)爐前鐵水化學(xué)成份控制的主要手段。光譜儀分析具有很多優(yōu)點:速度快,從試樣的制作到光譜儀分析結(jié)束僅需2~3分鐘;精i確度高,當鐵水化學(xué)元素含量在光譜儀分析范圍內(nèi)時分析偏差≤1%;分析化學(xué)元素種類全,可根據(jù)需要分析任何化學(xué)元素:操作簡單,只要經(jīng)過短期培訓(xùn)即會操作。

雖然光譜儀分析偏差正常規(guī)定≤1%,但我們在實際操作中偏差常大于1%達到5%甚至更高。這種偏差常發(fā)生在:試樣不同部位的光譜儀分析、同一個試樣在不同的光譜儀上分析、同一個試樣用手工和光譜儀對比方分析。針對偏差我們進行了研究分析,總結(jié)出主要由以下幾方面原因造成的以及相應(yīng)的改正措施。

試樣原因及改正措施

一般而言,z大的誤差來源于試樣本身。

1 光譜儀分析采用的試樣應(yīng)為白口試樣而不能為灰口試樣。

因為灰口試樣被光譜儀激發(fā)時由于表層電阻大,不易被電流擊穿,從而影響分析,得到的值偏低

2 準備激發(fā)時,試樣溫度應(yīng)為室溫(≤20℃)。

3 試樣面積應(yīng)大于火花激發(fā)臺激發(fā)孔,必須有

關(guān)于選擇直讀光譜儀的分析

目前，直讀光譜儀器應(yīng)用很廣泛，那么，如何選擇一臺適合自己的光譜儀呢？今天我就從各種光譜儀的特點出發(fā)，給大家簡要介紹一下。

根據(jù)檢測器的不同，火花直讀光譜儀分為PMT（光電倍增管）、CCD（電荷耦合器）和PMT/CCD混合型。

PMT具有噪聲低、靈敏度高、響應(yīng)速度快等優(yōu)點，因此，PMT型的光譜儀具有穩(wěn)定性好、檢出限低、準確度高等優(yōu)點。需要測量純金屬或者對痕量元素要求比較高的客戶可以考慮PMT型光譜儀。由于每個PMT只能測量一條譜線，且材料成本大、調(diào)試工藝復(fù)雜技術(shù)性強，因此這種光譜儀的價格也是貴的。

廣州儀德精密科學(xué)儀器股份有限公司主營：火花直讀光譜儀，光譜機，金屬材料分析儀，金屬元素分析儀，金屬成分分析儀，進口直讀光譜儀，火花直讀光譜儀，光電直讀光譜儀等等

維護直讀光譜儀的要點

激發(fā)臺的清理

樣品在激發(fā)的過程中，產(chǎn)生大量的金屬蒸氣。一部分金屬蒸氣隨ya氣排出儀器外，剩余的一部分附著在火花室的內(nèi)壁上，造成嚴重的污染。清洗方法有兩種，一種是利用激發(fā)的間隙。發(fā)現(xiàn)火花室內(nèi)壁粉末較多時，用鋼刷直接清掃，這時不必拆下蓋板，直接用鋼刷清理電極，清掃后要大流量沖洗吹出金屬粉末。如果火花室內(nèi)壁污染嚴重時，要徹底清洗，要把電極蓋板拆下，將鎢電極拔掉，并用酒精混合溶液清洗。一般低熔點金屬附著層是不易擦掉的，必須氧化鐵拋光粉，進行拋光后才能擦掉。清洗后，上好極蓋板，裝上清理好的電極，定好分析間隙的距離，用定距規(guī)，沖洗數(shù)分鐘，空燒激發(fā)試樣幾次，直至激發(fā)斑點呈凝聚放電為止

直讀光譜儀故障處理

真空值下降快故障

處理辦法：看真空值曲線是否平緩，否則，有漏氣的地方，檢查真空室真空蓋密封性，更換密封圈或?qū)蔷o固螺絲。

數(shù)據(jù)不穩(wěn)定

處理方法： 清洗鏡片后重新做標準化，儀器鏡片的污染會導(dǎo)致數(shù)據(jù)測試的結(jié)果不穩(wěn)定，長時間沒有做儀器的曲線校準也會導(dǎo)致數(shù)據(jù)測試穩(wěn)定性不好。

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光電直讀光譜儀選擇應(yīng)注意的事項

分光計的選擇

一般是根據(jù)分析元素及其測定范圍、鄰近譜線對分析線影響的程度等因素，考慮色散率、測定波長范圍和亮度來選定。

分析線的選擇

分析元素和內(nèi)標元素的譜線應(yīng)選擇受其他元素譜線及帶光譜等影響小、信噪比大的譜線。

對直讀光譜儀射線強度有影響的因素

不均勻效應(yīng)

不均勻效應(yīng)是指樣品顆粒大小不均勻及樣品表面光潔度對熒光X射線強度的影響。對于粉末樣品，大顆粒吸收效應(yīng)強，小顆粒吸收效應(yīng)弱，因此，要求顆粒粒度盡量小一些，以減少對X射線的吸收。測短波X射線時，要求粒度在250目以上，測量波長大于0.2nm的長波x射線時，則粒度要求在400目以上。

固體塊狀試樣一定要磨平拋光，粉末試樣要壓實并使表面平滑。粗糙表面會使熒光X射線的強度明顯下降。測量短波X射線時，光潔度在1005m左右，測量長波X射線時，光潔度為20-50Mm。