熒光光譜儀波長色散品牌 波長色散品牌 日本理學(xué)
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熒光光譜儀波長色散品牌-波長色散品牌-日本理學(xué)

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廣州儀德精密科學(xué)儀器股份有限公司

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商品參數(shù)
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商品介紹
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聯(lián)系方式
產(chǎn)地 日本
品牌 理學(xué)
產(chǎn)品名 波長色散X射線熒光光譜儀
報(bào)價(jià)方式 按實(shí)際訂單報(bào)價(jià)為準(zhǔn)
產(chǎn)品編號(hào) 7710163
商品介紹

廣州儀德精密科學(xué)儀器股份有限公司(原廣州市儀德科學(xué)儀器有限公司)創(chuàng)立于2005年,十三年來堅(jiān)持服務(wù)于國內(nèi)實(shí)驗(yàn)分析領(lǐng)域,專注于各類儀器的研究制造與營銷服務(wù),是一家專門為客戶打造一站式、全鏈條和“交鑰匙”實(shí)驗(yàn)室而組建的高新技術(shù)企業(yè)。

 產(chǎn)品資源豐富,種類齊全,涵蓋實(shí)驗(yàn)室通用儀器、化學(xué)分析、表面科學(xué)等,如全譜直讀光譜儀、波長\能量色散型X射線熒光光譜儀、電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀、輝光放電光譜儀、紫外可見分光光譜儀、分子熒光光譜儀、原子吸收光譜儀、掃描電鏡、原子力顯微鏡、金相顯微鏡、氧氮?dú)浞治鰞x、碳硫分析儀等。

 在儀德人的深耕細(xì)作下,客戶遍及汽車制造、鋼鐵冶金、有色金屬、電子電器、能源電力、石油化工、鐵路運(yùn)輸、機(jī)械制造、商檢、質(zhì)檢、環(huán)境保護(hù)、食品藥品和教學(xué)科研等各行各業(yè)。

當(dāng)樣品與聚焦點(diǎn)距離變化在-20μm~20 μm時(shí),激發(fā)出的Fe、Cu、Zn、S的強(qiáng)度值。X射線熒光光譜分析測(cè)定金屬膜層的厚度,其測(cè)量值與實(shí)際值偏差不大。該儀器還可以獲取清晰的以不同材料為基底的指紋圖像,在玻璃基底上獲取的指紋紋理更清晰。微區(qū)X射線熒光光譜無損分析可得到類似切割板的多元素分布圖,是分析元素分布規(guī)律的一種較快的方法,能快速測(cè)出金屬膜層的厚度,高效率提取指紋。通過蘭坪盆地鉛鋅銅多金屬成礦區(qū)帶典型礦山地區(qū)1:50000地質(zhì)調(diào)查,采集云龍縣的山坡、林地、草地等的土壤樣品400多件,用波長色散-能量色散復(fù)合型X射線熒光光譜儀測(cè)量土壤重金屬含量。得到土壤中重金屬元素的平均值、中位值等,發(fā)現(xiàn)Zn和Pb元素含量的值點(diǎn)在同一位置點(diǎn),在河庫旁干涸處草地。







 產(chǎn)品資源豐富,種類齊全,涵蓋實(shí)驗(yàn)室通用儀器、化學(xué)分析、表面科學(xué)等,如全譜直讀光譜儀、波長\能量色散型X射線熒光光譜儀、電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀、輝光放電光譜儀、紫外可見分光光譜儀、分子熒光光譜儀、原子吸收光譜儀、掃描電鏡、原子力顯微鏡、金相顯微鏡、氧氮?dú)浞治鰞x、碳硫分析儀等。、



開發(fā)了X射線熒光光譜法快速測(cè)定硫化銅礦中主量元素的分析方法,實(shí)驗(yàn)采用玻璃熔融法制備硫化銅礦樣品,在600℃下預(yù)氧化20min,使低價(jià)態(tài)的硫轉(zhuǎn)變?yōu)榱蛩猁},不僅避免了鉑金坩堝被腐蝕,而且可以更好的測(cè)定以Cu和S為主的主量元素的含量。該方法為X射線熒光分析法在硫化礦樣品分析領(lǐng)域的拓展提供了一套可借鑒的分析程序,有一定的實(shí)際應(yīng)用價(jià)值。隨著分析技術(shù)由整體分析向微區(qū)分析發(fā)展,地學(xué)研究由宏觀表征向微觀信息獲取的發(fā)展,巖礦的分析研究已經(jīng)由宏觀深入到更微觀的領(lǐng)域。目前實(shí)驗(yàn)室常規(guī)使用的微區(qū)分析技術(shù)包括電子探針、激光燒蝕等離子體質(zhì)譜和各類電子顯微鏡等。微區(qū)X射線熒光光譜分析(Micro-XRF)技術(shù)作為一種基于普通X射線熒光的無損分析技術(shù),是X射線光譜學(xué)領(lǐng)域的重要分支,可實(shí)現(xiàn)微米級(jí)微小區(qū)域內(nèi)樣品中多元素定性或定量分析,成為獲取樣品微區(qū)結(jié)構(gòu)元素空間線掃描、面掃描分布及時(shí)序性信息的有力工具。使用了臺(tái)式能量色散X射線熒光儀,對(duì)氧化物組合標(biāo)樣和礦物光片點(diǎn)掃描,對(duì)31個(gè)礦物光片和涂有防曬霜的指紋樣品進(jìn)行面掃描,5個(gè)金屬薄膜片點(diǎn)掃描。


ZSX Primus中具有一個(gè)30μm的X射線管(工業(yè)中薄端窗的X射線管),用于特殊輕元素(低原子序數(shù))檢出限。結(jié)合了的Mapping分析包來檢測(cè)均質(zhì)性和夾雜物,ZSX Primus簡單地提供了其他分析方法無法提供的詳細(xì)樣品分析??捎枚帱c(diǎn)分析幫助消除非均質(zhì)材料的抽樣誤差。

EZ掃描允許用戶在沒有事先設(shè)定任何條件的情況下分析未知樣品。此節(jié)省時(shí)間的功能僅要求單擊幾次鼠標(biāo)和輸入樣品名稱。結(jié)合SQX基本參數(shù)軟件,可以提供準(zhǔn)確、快速的XRF的結(jié)果。SQX可以自動(dòng)修復(fù)包括重疊的全部矩陣效果。SQX還可以通過光電子(輕元素和超輕元素)、變化的氣體環(huán)境、雜質(zhì)和不同的樣品尺寸,校正二次激發(fā)的效應(yīng)。





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