近些年來，X射線儀器仍然取得了巨大的進步，如：全反射X射線熒光光譜儀（TXRF）、聚焦微束X射線熒光光譜儀（μXRF）、偏振X射線熒光光譜儀（EDPXRF）等相繼商品化。

WDXRF光譜儀近年同樣取得了顯著的技術進步：

X射線管

1) 4KW大功率: 4KW薄窗 X 射線管，對于 19K~92U 元素范圍的重元素，提高靈敏度30%以上，對于 4Be~17Cl 元素范圍的輕元素，提高靈敏度 70%以上。同時，4KW 薄窗X 射線管的冷卻方式的改進，以及 X 射線發(fā)生器控制方式的發(fā)展，使得 4KW 薄窗 X 射線管在應用上的可靠性大大增強。 X 射線管功率也有小型化趨勢，使自身的體積縮小, 而且無需外冷卻水循環(huán)系統(tǒng)，如200w X射線管，性價比高、使用成本低，適用于要求固定的用戶。

2) 鈹( Be) 窗超薄化: X 射線管的鈹窗厚度一般為75~ 125um, 有的產家的X射線管的鈹窗厚度僅有30um, 這樣大大提高了初級X 射線的透射率。薄窗光管對Be, B, C, N等超輕元素的分析，對微量樣品分析，微區(qū)分析的發(fā)展起著極大動作用。

3) 光管端窗超銳化: 這種超銳X射線管外形獨特, 頭部尖細, 內部采用陶瓷絕緣, 其設計更加緊湊、合理、。窗口至樣品的距離 較常規(guī)端窗管短( 約 16mm) , 大大提高了X 射線輻照強度。而且, 由于采用優(yōu)良的絕緣和長壽命的燈絲, 延長了X 射線管的使用壽命。

4) 光管雙靶化: 為了使輕重元素都能獲 得激發(fā)效率, 一些儀器廠家將光管設置 成雙靶型。如日本株式會社理學。

該方法為X射線熒光分析法在硫化礦樣品分析領域的拓展提供了一套可借鑒的分析程序,有一定的實際應用價值。隨著分析技術由整體分析向微區(qū)分析發(fā)展,地學研究由宏觀表征向微觀信息獲取的發(fā)展,巖礦的分析研究已經由宏觀深入到更微觀的領域。目前實驗室常規(guī)使用的微區(qū)分析技術包括電子探針、激光燒蝕等離子體質譜和各類電子顯微鏡等。微區(qū)X射線熒光光譜分析(Micro-XRF)技術作為一種基于普通X射線熒光的無損分析技術,是X射線光譜學領域的重要分支,可實現(xiàn)微米級微小區(qū)域內樣品中多元素定性或定量分析,成為獲取樣品微區(qū)結構元素空間線掃描、面掃描分布及時序性信息的有力工具。使用了臺式能量色散X射線熒光儀,對氧化物組合標樣和礦物光片點掃描,對31個礦物光片和涂有防曬霜的指紋樣品進行面掃描,5個金屬薄膜片點掃描。

Micro-Z ULS

為石油、以及其他燃料的超低硫分析設計的理學Micro-Z ULS波長色散X射線熒光儀（WDXRF），擁有一個新的特征，可以同時測定硫的峰強和背景強度。測定并校正背景強度變化的能力使獲得一個更好的凈峰強度測定，從而獲得優(yōu)越的校正以及提高精度。理學Micro-Z ULS 遵照ASTM 2622-10、ISO 20884和JIS K2541-7方法。

卓越的光學器件用于可靠的硫分析

理學Micro-Z ULS是適用于石油基燃料的硫分析，帶有一個更低的0.3 ppm硫的檢測限（LLD）。 在一個真空環(huán)境中使用堅固的器件和一個特殊設計的雙曲RX-9分析晶體，Micro Z ULS進行連續(xù)的高靈敏度測定。

ASTM D2622性能用于初學用戶

為初學用戶進行特殊設計，可通過簡易操作界面進行從校正到例行分析的所有操作。該分析儀可使用任意標準墻壁電源插座供電。

產品資源豐富，種類齊全，涵蓋實驗室通用儀器、化學分析、表面科學等，如全譜直讀光譜儀、波長\能量色散型X射線熒光光譜儀、電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀、輝光放電光譜儀、紫外可見分光光譜儀、分子熒光光譜儀、原子吸收光譜儀、掃描電鏡、原子力顯微鏡、金相顯微鏡、氧氮氫分析儀、碳硫分析儀等。