找商網(wǎng)手機(jī)端:m.zhaosw.com
深圳市力之鋒電子設(shè)備有限公司
主營產(chǎn)品: SPI, AOI, X-RAY, 貼片機(jī),周邊設(shè)備等
钳钶钴钹钼钹钻钸钺钴钼
哈爾濱AOI-3D-SPI
價格
訂貨量(臺)
¥330000.00
≥1
店鋪主推品 熱銷潛力款
聯(lián)系人 童先生
钳钶钴钹钼钹钻钸钺钴钼
發(fā)貨地 廣東省深圳市
在線客服
深圳市力之鋒電子設(shè)備有限公司
店齡5年 企業(yè)認(rèn)證
聯(lián)系人
童先生
聯(lián)系電話
钳钶钴钹钼钹钻钸钺钴钼
經(jīng)營模式
其他
所在地區(qū)
廣東省深圳市
主營產(chǎn)品
進(jìn)入店鋪
收藏本店
商品參數(shù)
|
商品介紹
|
聯(lián)系方式
品牌 韓國高永
產(chǎn)品型號 ZENITHLITE
產(chǎn)品 AOI光學(xué)檢測儀
尺寸 1000*1265*1627(mm)
重量 重量
商品介紹
深圳市力之鋒電子設(shè)備有限公司一直誠信改良生產(chǎn)技術(shù)和商業(yè)管理模式,為客戶創(chuàng)造,客戶數(shù)量與營業(yè)額的不斷增長力鋒科技是客戶的選擇!
我們的產(chǎn)品不是全球的產(chǎn)品,但是我們ROHS一站式服務(wù)和個性化解決方案及多年SMT經(jīng)驗(yàn)?zāi)転橹行⌒桶l(fā)展中企業(yè)創(chuàng)造,期待與客戶共同成長
AOI自動光學(xué)檢測儀ALD510設(shè)備技術(shù)參數(shù)
檢測的電路板:回流爐后、DIP波峰焊后、點(diǎn)膠后、鍵盤字符等
檢測方法:統(tǒng)計建模,全彩像比對,根據(jù)不同檢測點(diǎn)自動設(shè)定其參數(shù)(如偏移、極性、短路等)
檢測覆蓋類型:錫膏印刷:有無、偏移、少錫、多錫、斷路、連錫、污染等
零件缺陷:缺件、偏移、歪斜、立碑、側(cè)立、翻件、錯件,OCV、破損、反向等
焊點(diǎn)缺陷:錫多、錫少、虛焊、連錫、銅箔污染等
分辨率/視覺范圍/速度:(standard)20μm/PixelFOV:32.56×24.72檢測速度<210ms/FOV(標(biāo)配)(option)25μm/PixelFOV:40.7×30.9檢測速度<230ms/FOV(選配)
小零件測試:20μm:0201chip&0.3pitchIC
PCB尺寸范圍:50×50(Min)~430×330(Max)
AOI檢測目的是覆蓋檢測上述各類缺陷,也就是說生產(chǎn)過程中出現(xiàn)的所有缺陷都可以被檢測出來。與此同時,必須將各種缺陷誤報降到低,以大化設(shè)備產(chǎn)出率。
當(dāng)AOI系統(tǒng)進(jìn)行焊點(diǎn)和元器件的檢測時,有些外部客觀因素,也就是與AOI無關(guān)的因素,也不得不要考慮進(jìn)來,因?yàn)樗鼈儠欣诨蚍恋K上述檢測目標(biāo)的實(shí)現(xiàn)。
其中影響大的因素就是焊盤設(shè)計。如果不同單板及同類封裝能使用統(tǒng)一的焊盤設(shè)計,那就有助于AOI檢測,因?yàn)檫@樣焊點(diǎn)外觀的一致性就好。好焊點(diǎn)的外觀越一致,焊點(diǎn)缺陷被檢測出來的可能性就越大,誤報率就會越少。如果焊盤過小,會導(dǎo)致焊點(diǎn)的潤濕面不可見,是不利于檢測的。另外一個重要的影響因素是元器件質(zhì)量,主要體現(xiàn)在待焊部位的可焊性和元器件的尺寸穩(wěn)定性要好。好的可焊性會使焊點(diǎn)更好、更一致。好的尺寸穩(wěn)定性,如QFP引腳長度尺寸的穩(wěn)定性,會使編程更容易。
其它影響因素包括印制電路板和阻焊膜的顏色、印制電路板變形塌陷量等。由于不可能改變所有外部客觀條件,所以AOI系統(tǒng)必須在設(shè)計上(傳感器、軟件及系統(tǒng)設(shè)置)充分考慮,具備彌補(bǔ)各種影響因素的能力。
特點(diǎn):
測量范圍廣. 采用專利4路投影技術(shù)和多頻高度測量, LiTE 版本測量范圍廣同時保持高分辨率.
變形校正. 采用KSMAR實(shí)時校正FPCB 扭曲變形;
教裸板前檢查識別模式信息而無需PCB CAD數(shù)據(jù).
快速和容易編程. 高永創(chuàng)新的編程工具提供了一個容易編程的新概念,可以通過使用3D測量值來實(shí)現(xiàn).
AOI測試及環(huán)境要求
AOI主要針對產(chǎn)品的顏色、外觀、尺寸、瑕疵等項(xiàng)目進(jìn)行檢測分析。而目前我們公司使用的AOI可以對大于0.2范圍的產(chǎn)品外觀進(jìn)行檢測。
AOI在實(shí)際運(yùn)用中,對測試環(huán)境的搭建,相機(jī)、鏡頭及光源的選取要求比較嚴(yán)格及。針對不同的產(chǎn)品,顏色不同,大小不同,測試環(huán)境及選擇的檢測設(shè)備也不一同。其中測試環(huán)境中的光源尤為重要,如果產(chǎn)品測試面有反光現(xiàn)象,直接會影響到測試結(jié)果精準(zhǔn)度。
我們的產(chǎn)品不是全球的產(chǎn)品,但是我們ROHS一站式服務(wù)和個性化解決方案及多年SMT經(jīng)驗(yàn)?zāi)転橹行⌒桶l(fā)展中企業(yè)創(chuàng)造,期待與客戶共同成長
AOI自動光學(xué)檢測儀ALD510設(shè)備技術(shù)參數(shù)
檢測的電路板:回流爐后、DIP波峰焊后、點(diǎn)膠后、鍵盤字符等
檢測方法:統(tǒng)計建模,全彩像比對,根據(jù)不同檢測點(diǎn)自動設(shè)定其參數(shù)(如偏移、極性、短路等)
檢測覆蓋類型:錫膏印刷:有無、偏移、少錫、多錫、斷路、連錫、污染等
零件缺陷:缺件、偏移、歪斜、立碑、側(cè)立、翻件、錯件,OCV、破損、反向等
焊點(diǎn)缺陷:錫多、錫少、虛焊、連錫、銅箔污染等
分辨率/視覺范圍/速度:(standard)20μm/PixelFOV:32.56×24.72檢測速度<210ms/FOV(標(biāo)配)(option)25μm/PixelFOV:40.7×30.9檢測速度<230ms/FOV(選配)
小零件測試:20μm:0201chip&0.3pitchIC
PCB尺寸范圍:50×50(Min)~430×330(Max)
AOI檢測目的是覆蓋檢測上述各類缺陷,也就是說生產(chǎn)過程中出現(xiàn)的所有缺陷都可以被檢測出來。與此同時,必須將各種缺陷誤報降到低,以大化設(shè)備產(chǎn)出率。
當(dāng)AOI系統(tǒng)進(jìn)行焊點(diǎn)和元器件的檢測時,有些外部客觀因素,也就是與AOI無關(guān)的因素,也不得不要考慮進(jìn)來,因?yàn)樗鼈儠欣诨蚍恋K上述檢測目標(biāo)的實(shí)現(xiàn)。
其中影響大的因素就是焊盤設(shè)計。如果不同單板及同類封裝能使用統(tǒng)一的焊盤設(shè)計,那就有助于AOI檢測,因?yàn)檫@樣焊點(diǎn)外觀的一致性就好。好焊點(diǎn)的外觀越一致,焊點(diǎn)缺陷被檢測出來的可能性就越大,誤報率就會越少。如果焊盤過小,會導(dǎo)致焊點(diǎn)的潤濕面不可見,是不利于檢測的。另外一個重要的影響因素是元器件質(zhì)量,主要體現(xiàn)在待焊部位的可焊性和元器件的尺寸穩(wěn)定性要好。好的可焊性會使焊點(diǎn)更好、更一致。好的尺寸穩(wěn)定性,如QFP引腳長度尺寸的穩(wěn)定性,會使編程更容易。
其它影響因素包括印制電路板和阻焊膜的顏色、印制電路板變形塌陷量等。由于不可能改變所有外部客觀條件,所以AOI系統(tǒng)必須在設(shè)計上(傳感器、軟件及系統(tǒng)設(shè)置)充分考慮,具備彌補(bǔ)各種影響因素的能力。
特點(diǎn):
測量范圍廣. 采用專利4路投影技術(shù)和多頻高度測量, LiTE 版本測量范圍廣同時保持高分辨率.
變形校正. 采用KSMAR實(shí)時校正FPCB 扭曲變形;
教裸板前檢查識別模式信息而無需PCB CAD數(shù)據(jù).
快速和容易編程. 高永創(chuàng)新的編程工具提供了一個容易編程的新概念,可以通過使用3D測量值來實(shí)現(xiàn).
AOI測試及環(huán)境要求
AOI主要針對產(chǎn)品的顏色、外觀、尺寸、瑕疵等項(xiàng)目進(jìn)行檢測分析。而目前我們公司使用的AOI可以對大于0.2范圍的產(chǎn)品外觀進(jìn)行檢測。
AOI在實(shí)際運(yùn)用中,對測試環(huán)境的搭建,相機(jī)、鏡頭及光源的選取要求比較嚴(yán)格及。針對不同的產(chǎn)品,顏色不同,大小不同,測試環(huán)境及選擇的檢測設(shè)備也不一同。其中測試環(huán)境中的光源尤為重要,如果產(chǎn)品測試面有反光現(xiàn)象,直接會影響到測試結(jié)果精準(zhǔn)度。
聯(lián)系方式
公司名稱 深圳市力之鋒電子設(shè)備有限公司
聯(lián)系賣家 童先生 (QQ:476419357)
電話 钺钵钼钼-钹钴钻钴钷钳钳钳
手機(jī) 钳钶钴钹钼钹钻钸钺钴钼
傳真 钺钵钼钼-钹钴钻钴钷钳钻钹
網(wǎng)址 http://www.3Dspi.com.cn
地址 廣東省深圳市